[发明专利]基于不同设计数据之间的元器件连通性检测系统有效
申请号: | 202111537523.6 | 申请日: | 2021-12-16 |
公开(公告)号: | CN113919252B | 公开(公告)日: | 2022-03-04 |
发明(设计)人: | 敬伟 | 申请(专利权)人: | 北京云枢创新软件技术有限公司;上海合见工业软件集团有限公司 |
主分类号: | G06F30/31 | 分类号: | G06F30/31;G06F30/398;G06F30/392;G06F115/12 |
代理公司: | 北京锺维联合知识产权代理有限公司 11579 | 代理人: | 丁慧玲 |
地址: | 100193 北京市海淀区东北旺北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 不同 设计 数据 之间 元器件 连通性 检测 系统 | ||
本发明涉及一种基于不同设计数据之间的元器件连通性检测系统,实现步骤C1、将多个待处理的设计数据导入所述坐标系中;步骤C2、基于用户输入界面获取的第一输入指令选择父节点和子节点对应的设计数据名称、元器件名称和元器件层级信息,根据约束规则库建立设计数据映射表;步骤C3、接收用户输入界面获取的第二输入指令对元器件执行移动、翻转和/或旋转操作,将元器件设置在所述坐标系中的对应的目标位置,并建立元器件之间的物理连接;步骤C4、根据设计数据映射表和元器件之间的物理连接,生成不同设计数据之间的元器件连通性检测数据。本发明实现了系统级互连的不同设计数据之间的元器件连通性检查,提高设计数据检测的准确性和效率。
技术领域
本发明涉及电子设计技术领域,尤其涉及一种基于不同设计数据之间的元器件连通性检测系统。
背景技术
在PCB( Printed Circuit Board,印刷电路板),Package(封装),Interposer(封装载板),IC(integrated circuit,集成电路)等设计(Device)中,通常是由不同的厂商独立制造的,因此各个设计数据是独立的,不同设计数据配置的网络基于不同设计数据之间的元器件连通性检测系统、管脚命名、管脚号等可能均不相同。设计数据检测过程中,需要将各个设计数据嵌套在一起进行检测。现有技术中通常通过人工对少量不同设计之间的连接进行检查,但是随着电子技术的发展,一个系统中可能涉及上万个甚至几十个设计组成多层级互联,人工检测无法保证检测效率和准确性,显然不再适用于人工检测。而由于设计数据各自独立,系统互连的正确性及统一性等得不到保证,无法保证系统互连的准确性,所以需要进行系统级设计数据互连正确性进行检查。由此可知,如何实现系统级互连的不同设计数据之间的元器件连通性检查,提高设计数据检测的准确性和效率成为亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明目的在于,提供一种基于不同设计数据之间的元器件连通性检测系统,实现了系统级互连的不同设计数据之间的元器件连通性检查,提高设计数据检测的准确性和效率。
根据本发明第一方面,提供了一种基于不同设计数据之间的元器件连通性检测系统,包括用户输入界面,预先构建的坐标系,预先建立的约束规则库、存储有计算机程序的存储器和处理器,所述约束规则库用于存储父节点与子节点设计类型映射约束规则,以及父节点与子节点设计层级约束规则,所述处理器执行所述计算机程序时用于实现以下步骤:
步骤C1、将多个待处理的设计数据导入所述坐标系中,每一所述待处理的设计数据包括至少一个元器件数据,所述元器件数据包括设计数据名称、元器件名称、元器件原始坐标、元器件管脚信息、元器件形状信息、元器件状态信息和元器件层级信息,所述元器件状态信息包括翻转状态标识和旋转状态标识,所述管脚信息包括管脚名称和网络名称信息;
步骤C2、基于所述用户输入界面获取的第一输入指令选择父节点和子节点对应的设计数据名称、元器件名称和元器件层级信息,根据所述约束规则库建立设计数据映射表,所述设计数据映射表中包括至少一条设计数据链路,所述设计数据链路包括不同设计数据的元器件以及层级之间的对应关系;
步骤C3、接收所述用户输入界面获取的第二输入指令对元器件执行移动、翻转和/或旋转操作,将元器件设置在所述坐标系中的对应的目标位置,并建立元器件之间的物理连接;
步骤C4、根据所述设计数据映射表和元器件之间的物理连接,生成不同设计数据之间的元器件连通性检测数据。
本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。借由上述技术方案,本发明提供的一种基于不同设计数据之间的元器件连通性检测系统可达到相当的技术进步性及实用性,并具有产业上的广泛利用价值,其至少具有下列优点:
本发明建立了不同设计数据之间的匹配映射关系和元器件之间的物理连接关系,实现了系统级互连的不同设计数据之间的元器件连通性检查,提高设计数据检测的准确性和效率,减少设计缺陷率。
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