[发明专利]一种隐身翼面部件制备方法有效
申请号: | 202111528509.X | 申请日: | 2021-12-14 |
公开(公告)号: | CN114193863B | 公开(公告)日: | 2023-01-17 |
发明(设计)人: | 郝璐;郭晓铛;张松靖;唐建国 | 申请(专利权)人: | 北京机电工程研究所 |
主分类号: | B32B17/02 | 分类号: | B32B17/02;B32B17/10;B32B27/38;B32B9/00;B32B9/04;B32B27/06;B32B27/40;B32B33/00;B32B37/06;B32B37/10;B64F5/10 |
代理公司: | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人: | 赵晓宇 |
地址: | 100074 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 隐身 部件 制备 方法 | ||
本发明公开了一种隐身翼面部件制备方法,隐身翼面部件由介质层材料和吸波功能材料和屏蔽底层材料组成,隐身翼面部件制造成型前对吸波功能材料进行快速检测。该测试所用装置包括反射率现场测量仪,标准参考介质层板和屏蔽底板组成,测试按如下步骤进行:吸波功能材料与标准参考介质板和屏蔽底板一起组成多层结构,要求其铺层顺序与隐身翼面部件实际铺层顺序一致。标准参考介质板采用介质层材料制备,且厚度与实际铺层中介质层材料的设计厚度一致。通过反射率现场测量仪压紧于多层组合结构的外表面进行反射率测试,根据测试结果R是否达标判定吸波功能材料用于隐身翼面部件成型后的隐身性能能否达到预期指标。
技术领域
本发明属于雷达隐身翼面部件技术领域,涉及一种基于材料反射率快速检测的隐身翼面部件制备方法。该技术方案可应用于各种隐身飞行器的机/弹翼、尾翼、舵面雷达隐身设计,也适用于进气道、尾喷管等外形复杂的隐身结构部件设计。
背景技术
翼面是飞行器主要雷达散射源之一,为减少飞行器雷达回波,提升飞行器隐身性能,需要对其采用具有宽频吸波特性的多层吸波复合材料。
中国发明专利《一种蜂窝夹芯石墨烯隐身前缘及其加工方法》(申请号:CN202011162303.5)、《一种隐身/承力型结构翼面》(申请号:CN201710817592.X)、《一种吸波复合材料飞行器部件及其制备方法》(申请号:CN201910976298.2)均公布了不同形式的吸波结构部件,但上述吸波结构部件方法均无法在部件制备成型前提前控制隐身性能,存在制备成型后隐身性能不合格而报废的风险。
隐身性能检测方面,GJB 5022-2001《室内场缩比模型雷达散射截面测试方法》给出了室内场条件下测量缩比或全尺寸目标的雷达散射截面方法,仅适用于已制备成型的目标或部件;GJB2038A中给出了两种常用的吸波材料反射率测试方法,弓形架法和暗室RCS法,该方法测试时,要求将制备完成的吸波材料裁切成标准规格的平板件进行测试。彭刚等在中国实用新型专利申请文件《一种手持式雷达吸波涂料反射率现场测量仪》(申请号201620741587.6)中公开了一种可以对任意平面形状的材料的特定部位进行反射率测量的方法。其特征是将微波探头紧贴于制备完成的固体被测物体表面进行测试。可以看出,现有的各种测试方法只能针对固化完成后的材料平板或者材料部件进行,对于含有多个功能层组成的吸波复合材料来说,其无法在复合材料成形之前对材料固化后的吸波性能进行快速直接测试。而且,即使是材料固化后,该方法无法在天线口面无法触及的腔体内表面完成反射率检测。
中国发明专利《一种宽频吸波承力复合材料及其制备方法》(授权号ZL201520617711.8)中公开了一种吸波承力复合材料的制备方法,该方法要求首先制备出吸波层材料,然后对吸波层材料进行反射率检测,合格后进行材料件的制备。该方法只提到了对吸波功能层材料的反射率检测,但无法有效监测吸波功能层材料与介质材料复合后的整体反射率性能,按照常规方法,在吸波材料的宽频反射率只能在完全固化制备成试样后才能检测出。
发明内容
本发明提供了一种基于材料反射率快速检测的隐身翼面部件制备方法,通过提前准备标准参考介质板,采用反射率现场测试仪在多层复合材料固化成型之前重点对吸波功能层材料进行反射率快速测试方法,快速得出多层材料复合后的整体反射率性能,实现复杂吸波结构部件固化成型前快速获知隐身性能,避免吸波结构部件制备成型后因隐身性能不合格而报废的风险。
本发明的技术方案如下:
一种隐身翼面部件的制备方法,该翼面在边缘部位采用多层吸波复合材料,该多层吸波复合材料由两个或多个隐身功能层和一层屏蔽底层组成,各隐身功能层材料有着不同的电磁参数,该制备方法在于:在多层吸波复合材料铺层固化前,按如下方法对多层材料的各层分别单独进行反射率检测;
设多层吸波复合材料中,除屏蔽底层外的隐身功能层的层数为n,标记由外向内依次为xi层,i=1,2,……,n,对第xi层材料的反射率特性按如下方式进行无损检测:
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