[发明专利]显示面板的残像测试方法及相关装置

说明书

本申请提供了一种显示面板的残像测试方法及相关装置，残像测试方法包括：使显示面板显示中灰阶画面，并获得显示面板中多个第一测试区域和多个第二测试区域的第一亮度数据；其中，同一测试组内的第一测试区域和第二测试区域关于显示面板的第一中轴线对称设置；使位于第一中轴线一侧的显示面板显示黑画面，且位于第一中轴线另一侧的显示面板显示白画面；使显示面板显示中灰阶画面，并获得多个第一测试区域和多个第二测试区域的第二亮度数据；根据同一测试组内的第一测试区域和第二测试区域的第一亮度数据和第二亮度数据获得第一残像参数；利用多个测试组的第一残像参数获得第二残像参数。上述方式能够提高残像测试结果与目视结果之间的匹配度。

技术领域

本申请属于显示技术领域，具体涉及一种显示面板的残像测试方法及相关装置。

背景技术

显示面板的残像是指显示面板在显示前一静态画面并持续一段时间后，在显示后一画面时仍然会出现前一画面的影像或轮廓的现象。因此，在显示面板出厂前需要对显示面板的残像水平进行测试，以保证出厂后显示面板的显示效果。

但是，利用现有的残像测试方法对亮度均一性较差的显示面板进行测试所获得的残像测试结果不能很好地与目视结果匹配。

发明内容

本申请提供一种显示面板的残像测试方法及相关装置，以提高残像测试结果与目视结果之间的匹配度。

为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种显示面板的残像测试方法，包括：使所述显示面板显示中灰阶画面，并获得所述显示面板中多个第一测试区域和多个第二测试区域的第一亮度数据；其中，所述显示面板设置有第一选定区域和第二选定区域，所述第一选定区域内设置有多个所述第一测试区域，所述第二选定区域内设置有多个所述第二测试区域，且一个所述第一测试区域和一个所述第二测试区域构成一个测试组，同一所述测试组内的所述第一测试区域和所述第二测试区域关于所述显示面板的第一中轴线对称设置；使位于所述第一中轴线一侧的所述显示面板显示黑画面，且位于所述第一中轴线另一侧的所述显示面板显示白画面；使所述显示面板显示所述中灰阶画面，并获得多个所述第一测试区域和多个所述第二测试区域的第二亮度数据；根据同一测试组内的所述第一测试区域和所述第二测试区域的第一亮度数据和第二亮度数据获得第一残像参数；利用多个所述测试组的所述第一残像参数获得第二残像参数。

为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种显示面板的残像测试装置，包括相互耦接的存储器和处理器，所述存储器中存储有程序指令，所述处理器用于执行所述程序指令以实现上述任一实施例中所述的残像测试方法。

为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种存储装置，存储有能够被处理器运行的程序指令，所述程序指令用于实现上述任一实施例中所述的残像测试方法。

区别于现有技术情况，本申请的有益效果是：本申请所提供的残像测试方法中显示面板具有至少一组第一选定区域和第二选定区域；且第一选定区域内设置有多个第一测试区域，第二选定区域内设置有多个第二测试区域，一个第一测试区域和一个第二测试区域构成一个测试组，而同一测试组内的第一测试区域和第二测试区域关于显示面板的第一中轴线对称设置。后续可以根据同一测试组内的第一测试区域和第二测试区域在黑白块老化之前和之后的亮度数据获得第一残像参数，并基于多个测试组的第一残像参数获得第二残像参数。在本申请中将第一选定区域和第二选定区域进行细分，细分后的第一测试区域和第二测试区域的面积较小，细分后的第一测试区域和第二测试区域内的亮度均一性较好。基于细分后的第一测试区域和第二测试区域所获得的第二残像参数，可以减少第一选定区域和第二选定区域内亮度不均所造成的数据量化结果和目视结果不匹配的现象，以使得残像测试结果更为准确。

此外，对第一选定区域细分后的每个测试组中第一测试区域与第二测试区域之间的第一距离不同，可以根据每个测试组的第一距离确定其对第二残像参数的贡献度(即第一权重值)，基于每个测试组的贡献度计算获得的第二残像参数与目视结果的匹配性更优，结果更加准确。

附图说明