[发明专利]显示面板的残像测试方法及相关装置

权利要求书

1.一种显示面板的残像测试方法，其特征在于，包括：

使所述显示面板显示中灰阶画面，并获得所述显示面板中多个第一测试区域和多个第二测试区域的第一亮度数据；其中，所述显示面板设置有第一选定区域和第二选定区域，所述第一选定区域内设置有多个所述第一测试区域，所述第二选定区域内设置有多个所述第二测试区域，且一个所述第一测试区域和一个所述第二测试区域构成一个测试组，同一所述测试组内的所述第一测试区域和所述第二测试区域关于所述显示面板的第一中轴线对称设置；

使位于所述第一中轴线一侧的所述显示面板显示黑画面，且位于所述第一中轴线另一侧的所述显示面板显示白画面；

使所述显示面板显示所述中灰阶画面，并获得多个所述第一测试区域和多个所述第二测试区域的第二亮度数据；

根据同一测试组内的所述第一测试区域和所述第二测试区域的第一亮度数据和第二亮度数据获得第一残像参数；

利用多个所述测试组的所述第一残像参数获得第二残像参数。

2.根据权利要求1所述的残像测试方法，其特征在于，所述利用多个所述测试组的所述第一残像参数获得第二残像参数的步骤，包括：

利用多个所述测试组的所述第一残像参数和对应的第一权重值获得第二残像参数；其中，同一所述测试组中的所述第一测试区域与所述第二测试区域之间的第一距离越大，所述第一权重值越小。

3.根据权利要求2所述的残像测试方法，其特征在于，所述利用多个所述测试组的所述第一残像参数和对应的第一权重值获得第二残像参数的步骤，包括：

获得每个所述测试组的所述第一残像参数和对应的第一权重值之间的第一乘积；其中，所有所述第一权重值之和为一；

将所有所述第一乘积之和作为所述第二残像参数。

4.根据权利要求2或3所述的残像测试方法，其特征在于，所述利用多个所述测试组的所述第一残像参数和对应的第一权重值获得第二残像参数的步骤之前，包括：

获得每个所述测试组中所述第一测试区域与所述第二测试区域之间的第一距离；

获得所有所述第一距离的第一和值，并获得每个所述测试组的所述第一距离与所述第一和值的第一比值；

根据每个所述测试组的所述第一距离的大小从多个所述第一比值中选择一个作为所述第一权重值；其中，所述第一距离越大，所选择的所述第一权重值越小。

5.根据权利要求1所述的残像测试方法，其特征在于，所述使所述显示面板显示中灰阶画面，并获得所述显示面板中多个第一测试区域和多个第二测试区域的第一亮度数据的步骤之前，包括：

对所述显示面板进行划分以获得至少一组所述第一选定区域和所述第二选定区域；其中，同组内的所述第一选定区域和所述第二选定区域关于所述第一中轴线对称设置；

对所述第一选定区域进行划分以获得多个所述第一测试区域、以及对所述第二选定区域进行划分以获得多个所述第二测试区域；其中，多个所述第一测试区域和多个所述第二测试区域沿垂直于所述第一中轴线方向并排设置。

6.根据权利要求5所述的残像测试方法，其特征在于，

所有所述第一测试区域和所述第二测试区域的形状和面积相同，相邻所述第一测试区域或相邻所述第二测试区域对应的所述第一权重值之间的差值相同；

优选地，所述显示面板包括与所述第一中轴线相互垂直的第二中轴线，每一所述第一测试区域关于所述第二中轴线对称，每一所述第二测试区域关于所述第二中轴线对称。