[发明专利]适用于功率循环试验的多参数配置方法

说明书

本发明涉及一种适用于功率循环试验的多参数配置方法。其包括如下步骤：步骤1、提取得到一输出参数以及所述输出参数相对应独立输入参数的集合；步骤2、确定输出参数与独立输入参数集合中任一独立输入参数的规律曲线；步骤3、建立规律存储器，利用所述规律存储器能存储输出输入参数规律关联方案；步骤4、设定功率循环试验的输出参数目标值，在查找到所述输出输入参数规律方案后，根据输出参数目标值以及输出输入参数规律方案内的规律曲线确定相对应的输入参数目标值，以实现功率循环试验中多个输入参数的配置。本发明能有效实现功率循环试验中的目标环境参数的配置，提高功率循环试验的效率与可靠性。

技术领域

本发明涉及一种多参数配置方法，尤其是一种适用于功率循环试验的多参数配置方法。

背景技术

对于功率半导体器件而言，功率循环试验的目的即是在特定测试环境下测试出所述功率半导体器件在开关状态时各特征参数的损耗。在功率半导体器件的功率循环正式测试前，需配置好试验的目标环境参数，具体如环境温度，循环水路流量和温度，循环功率等。

为了让功率循环试验在目标环境下进行，人们往往通过手动方式调节输入参数值，以达到实际目标环境参数(即输入参数)下与目标环境相适配。此外，还可以利用穷举排列法调节输入参数值，即把影响目标输出参数值的所有输入参数排列起来进行逐一调节，以获取期望测试环境。

对于上述现有的调节输入参数值的方法，主要存在如下几个问题：1)、输入参数个数必须是有限个，若影响输出参数的输入参数个数无限，此方法则不能达到最终目的。2)、在调节输入参数值时，无法限定每种输入参数的调节步长，例如，要使电路温度升高，可以增大电路中的流动电流，那么要精确的达到期望测试环境，每次增大的幅度无法确定。3)、若输入参数个数是无限多个，会耗费巨大时间，难以提高生产力。

综上所述，目前广泛应用的调节配置目标环境参数的方法存在以下几个缺点：

1)、配置一次目标环境参数至少需2-4小时，甚至更长时间，极大地消耗了人力和时间；

2)、人为手动调节过程中，需调节的输入参数繁多，参数间耦合关系复杂，不容易达到目标；例如封装器件目标达到Tvj(结温)为90摄氏度下进行功率循环试验，在可允许范围内调整Iheat(加热电流)可使Tvj最大升高到60摄氏度，此时，Iheat已达到电路承受极限值，要使Tvj继续升高，则需调节VGEheat或OpeningValue等其余输入参数；

3)、可操控性差，存在多参数互相影响和组合问题。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术中存在的不足，提供一种适用于功率循环试验的多参数配置方法，其能有效实现功率循环试验中的目标环境参数的配置，提高功率循环试验的效率与可靠性。

按照本发明提供的技术方案，一种适用于功率循环试验的多参数配置方法，所述多参数配置方法包括如下步骤：

步骤1、根据功率循环试验的特性，对功率循环试验中输入参数与输出参数进行相关性分析，以能提取得到一输出参数以及所述输出参数相对应独立输入参数的集合；

步骤2、对上述提取得到输出参数以及与所述输出参数相对应独立输入参数的集合，根据功率循环试验特性，确定输出参数与独立输入参数集合中任一独立输入参数的规律曲线；

步骤3、建立规律存储器，利用所述规律存储器能存储输出输入参数规律关联方案，其中，输出输入参数规律方案中包括输出参数、与所述输出参数相对应的独立输入参数以及输出参数与所对应输入参数的规律曲线；

步骤4、设定功率循环试验的输出参数目标值，并根据所述输出参数在规律存储器内查找所有与所述输出参数相对应的输出输入参数规律方案；