[发明专利]一种高分子材料的颜色荧光强度的测定方法及装置

说明书

本发明提供的一种高分子材料的颜色荧光强度的测定方法及装置，通过分别获取紫外光条件下和排出紫外光条件下待测材料的颜色光谱曲线；分别对两个光谱曲线做图，并标识两个曲线相交位置的坐标；利用微积分法分别计算两个坐标区域内两个曲线的面积；根据计算得到的两个曲线的面积的大小判断所述待测材料的颜色荧光强度，避免了人为因素或主观因素的影响，提高了颜色判断的准确性，且方法简单，速度快，能够为产品的品质提供有效的保证。

技术领域

本发明涉及荧光测定技术领域，特别涉及一种高分子材料的颜色荧光强度的测定方法及装置。

背景技术

荧光着色剂是一类吸收某一波长的光波后能发射出另一波长大于吸收光的光波的物质。这类着色剂在吸收紫外线或可见光后，能把短波长的光转变为波长较长的可见光波而反射出来，呈闪亮的鲜艳色彩。

在复合材料的制备工程中，为了满足颜色需要，往往添加荧光增白剂和其他颜色的荧光着色剂。

在实际运用过程中，不同含量的荧光着色剂会大大影响到在室内和室外看到的颜色差异，产生同色异谱。

即使相同含量的荧光着色剂在不同材料和不同比例的填充物中显示出来的荧光效果也不一样。

所以也不能简单用荧光着色剂的含量来比较荧光效果。

紫外灯照射观测法是目前比较荧光强弱最常用方法，在避光条件下，采用254nm和365nm的紫外灯照射标准色板和待测样品，观察标准色板和样品表面是否有可见荧光，进而比较荧光强弱。但该方法依靠观察来判断，主观因素影响较大，易造成误判。

因此，需要一种高分子材料的颜色荧光强度的测定方法及装置，能够避免人为因素或主观因素的影响，提高颜色判断的准确性，且方法简单，速度快，能够为产品的品质提供有效的保证。

发明内容

(一)要解决的技术问题

为了解决现有技术的上述问题，本发明提供一种高分子材料的颜色荧光强度的测定方法及装置，能够避免人为因素或主观因素的影响，提高颜色判断的准确性，且方法简单，速度快，能够为产品的品质提供有效的保证。

(二)技术方案

为了达到上述目的，本发明采用的一种技术方案为：

一种高分子材料的颜色荧光强度的测定方法，包括步骤：

S1、分别获取紫外光条件下和排出紫外光条件下待测材料的颜色光谱曲线；

S2、分别对两个光谱曲线做图，并标识两个曲线相交位置的坐标；

S3、利用微积分法分别计算两个坐标区域内两个曲线的面积；

S4、根据计算得到的两个曲线的面积的大小判断所述待测材料的颜色荧光强度。

为了达到上述目的，本发明采用的另一种技术方案为：

一种高分子材料的颜色荧光强度的测定装置，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现以下步骤：

S1、分别获取紫外光条件下和排出紫外光条件下待测材料的颜色光谱曲线；

S2、分别对两个光谱曲线做图，并标识两个曲线相交位置的坐标；

S3、利用微积分法分别计算两个坐标区域内两个曲线的面积；

S4、根据计算得到的两个曲线的面积的大小判断所述待测材料的颜色荧光强度。

(三)有益效果