[发明专利]标定方法及装置、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种标定方法，其特征在于，包括：

对待处理图像进行检测，获取待处理图像中的目标对象；

确定所述目标对象的预设特征点；

根据所述预设特征点，确定与所述预设特征点对应的映射矩阵；

根据所述映射矩阵以及所述预设特征点，获得图像获取设备的参数信息，所述待处理图像是所述图像获取设备获取的。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对待处理图像进行检测，获取待处理图像中的目标对象，包括：

在所述待处理图像中检测出多个对象；

根据所述多个对象的姿态和/或遮挡状态，对所述多个对象进行筛选，获得所述目标对象。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述多个对象的姿态和/或遮挡状态，对所述多个对象进行筛选，获得所述目标对象，包括：

获取所述多个对象的关键点；

根据每个所述对象的关键点，分别确定每个所述对象的姿态；

根据每个所述对象的姿态，对所述多个对象进行筛选，获得所述目标对象。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述多个对象的姿态和/或遮挡状态，对所述多个对象进行筛选，获得所述目标对象，包括：

获取所述多个对象的关键点；

分别确定每个所述对象的关键点的置信度；

根据所述关键点的置信度，分别确定每个所述对象的遮挡状态；

根据所述遮挡状态，对所述多个对象进行筛选，获得所述目标对象。

5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，获取所述多个对象的关键点，包括：

获得每个所述对象的位置信息；

根据每个所述对象的位置信息，获得所述多个对象的关键点。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述目标对象的预设特征点，包括：

获取所述目标对象的掩膜图像；

获取所述掩膜图像的多个像素点的协方差矩阵；

对所述协方差矩阵进行特征分解，获得特征向量；

根据所述特征向量和所述掩膜图像的多个像素点，确定所述预设特征点。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参数信息包括内参信息和位姿信息，

根据所述映射矩阵以及所述预设特征点，获得图像获取设备的参数信息，包括：

根据所述映射矩阵以及所述预设特征点，获得所述预设特征点的误差信息；

根据所述误差信息，对所述映射矩阵的参数进行调整，获得调整后的映射矩阵；

根据所述调整后的映射矩阵，获得所述图像获取设备的内参信息和位姿信息。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述映射矩阵为用于表示同一目标对象的不同预设特征点之间的位置关系的矩阵。

9.一种标定装置，其特征在于，包括：

目标对象获取模块，用于对待处理图像进行检测，获取待处理图像中的目标对象；

特征点确定模块，用于确定所述目标对象的预设特征点；

映射矩阵确定模块，用于根据所述预设特征点，确定与所述预设特征点对应的映射矩阵；

参数信息确定模块，用于根据所述映射矩阵以及所述预设特征点，获得图像获取设备的参数信息，所述待处理图像是所述图像获取设备获取的。

10.一种电子设备，其特征在于，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为调用所述存储器存储的指令，以执行权利要求1至8中任意一项所述的方法。

11.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序指令，其特征在于，所述计算机程序指令被处理器执行时实现权利要求1至8中任意一项所述的方法。