[发明专利]进行电容器连接再分布的集成存储器以及形成集成存储器的方法在审
申请号: | 202111492144.X | 申请日: | 2021-12-08 |
公开(公告)号: | CN115036314A | 公开(公告)日: | 2022-09-09 |
发明(设计)人: | G·杨;V·奈尔;D·D·史莱伦;A·潘戴;李康乐;解志强;S·博尔萨里;M·K·阿赫塔尔;李时雨 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | H01L27/108 | 分类号: | H01L27/108;H01L21/8242 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 王龙 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 进行 电容器 连接 再分 集成 存储器 以及 形成 方法 | ||
1.一种集成组件,其包括:
有源区,其各自具有在一对电容器接触区之间的数字线接触区,所述电容器接触区布置成一图案,使得六个邻近的电容器接触区形成大体上矩形配置;
导电插塞,其与所述电容器接触区耦合;
导电再分布材料,其与所述导电插塞耦合,且穿过所述导电插塞到所述电容器接触区;所述导电再分布材料从所述导电插塞向上且横向向外延伸;所述导电再分布材料的上表面布置成一图案,使得七个邻近上表面形成大体上密排六方配置的单元;
数字线,其在所述数字线接触区上方;
绝缘区,其在所述数字线与所述导电插塞之间;所述绝缘区包括空隙和低k介电材料中的一者或两者,其中所述空隙和/或低k介电材料接触所述电容器接触区的上表面;以及
电容器,其与所述导电再分布材料的所述上表面耦合。
2.根据权利要求1所述的集成组件,其中:
所述电容器接触区布置成阵列;
所述阵列具有交替的第一和第二行;
所述导电再分布材料具有沿着所述第一行的第一配置,其中所述第一配置在大体上沿着所述第一行的第一方向上从所述第一行的所述电容器接触区横向向外延伸;以及
所述导电再分布材料具有沿着所述第二行的第二配置,其中所述第二配置在大体上沿着所述第二行的第二方向上从所述第二行的所述电容器接触区横向向外延伸;所述第二方向大体上与所述第一方向相反。
3.根据权利要求1所述的集成组件,其中:
所述有源区为半导体材料支柱;
所述支柱中的每一者具有在其中延伸的两个沟槽,其中所述两个沟槽为第一沟槽和第二沟槽;
所述支柱中的每一者具有所述电容器接触区中的两者和所述数字线接触区中的一者,其中所述两个电容器接触区为第一电容器接触区和第二电容器接触区;
第一字线在所述第一沟槽内且将所述第一电容器接触区以选通方式耦合到所述数字线接触区;以及
第二字线在所述第二沟槽内且将所述第二电容器接触区以选通方式耦合到所述电容器接触区。
4.根据权利要求1所述的集成组件,其中所述导电插塞包括导电掺杂半导体材料。
5.根据权利要求1所述的集成组件,其中所述导电插塞包括导电掺杂硅。
6.根据权利要求1所述的集成组件,其中所述绝缘区包括所述空隙。
7.根据权利要求1所述的集成组件,其中所述绝缘区包括所述低k介电材料。
8.根据权利要求1所述的集成组件,其中所述绝缘区包括所述空隙和所述低k介电材料。
9.根据权利要求1所述的集成组件,其中所述导电再分布材料包括金属硅化物上的金属。
10.根据权利要求9所述的集成组件,其中所述金属基本上由钨和钛中的一者或两者组成;且其中所述金属硅化物包括一或多个硅化钴、硅化钨和硅化钛。
11.根据权利要求1所述的集成组件,其中所述绝缘区在所述数字线上方延伸。
12.根据权利要求1所述的集成组件,其中所述绝缘区在至少一些所述数字线下方延伸。
13.根据权利要求1所述的集成组件,其中所述绝缘区包含在所有所述数字线上方延伸且在一些所述数字线下方延伸的低k介电材料。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的