[发明专利]一种IGZO阵列基板及其配线结构在审
申请号: | 202111485613.5 | 申请日: | 2021-12-07 |
公开(公告)号: | CN114023775A | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
发明(设计)人: | 宋安鑫;韩正宇;李元行;魏华 | 申请(专利权)人: | 福建华佳彩有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;G02F1/1362;G02F1/1343 |
代理公司: | 福州君诚知识产权代理有限公司 35211 | 代理人: | 戴雨君 |
地址: | 351100 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 igzo 阵列 及其 结构 | ||
1.一种IGZO阵列基板,包括玻璃基板(1),其特征在于:所述玻璃基板(1)的上表面固定连接栅极绝缘层(2),所述栅极绝缘层(2)与玻璃基板(1)的之间的位置设置金属栅极(3),所述金属栅极(3)固定安装在玻璃基板(1)的上表面,所述栅极绝缘层(2)的上表面固定连接半导体有源层(4),所述半导体有源层(4)上表面左右两侧的位置分别固定连接金属源漏极(5),所述金属源漏极(5)的上表面紧贴钝化层PV一(6)的底面,所述钝化层PV一(6)固定安装在栅极绝缘层(2)的上表面,所述钝化层PV一(6)的上表面固定连接钝化层PV二(7),所述钝化层PV二(7)的上表面左右两侧的位置分别固定连接有机平坦层(8),所述有机平坦层(8)的上表面固定连接触控电极(9),所述钝化层PV二(7)上表面中间的位置固定连接钝化层VA一(10),所述钝化层VA一(10)的上表面固定连接钝化层VA二(11),所述钝化层VA二(11)的上表面左右两侧的位置分别固定连接公共电极(12),所述公共电极(12)的上表面固定连接钝化层CH一(13),所述钝化层CH一(13)的上表面固定连接钝化层CH二(14),所述钝化层CH二(14)的上表面固定连接像素电极(15),所述玻璃基板(1)的外表面设置封框胶区(16)。
2.根据权利要求1所述的一种IGZO阵列基板,其特征在于:所述金属源漏极(5)固定安装在栅极绝缘层(2)的上表面,其中一处所述金属源漏极(5)的上表面固定连接像素电极(15)的底部。
3.根据权利要求1所述的一种IGZO阵列基板,其特征在于:所述像素电极(15)贯穿钝化层CH二(14)、钝化层CH一(13)、钝化层VA二(11)、钝化层VA一(10)、钝化层PV二(7)和钝化层PV一(6)的内部。
4.根据权利要求1所述的一种IGZO阵列基板,其特征在于:所述触控电极(9)设置在其中一处所述有机平坦层(8)的上表面,所述触控电极(9)的上表面固定连接公共电极(12)。
5.根据权利要求1所述的一种IGZO阵列基板,其特征在于:所述金属栅极(3)的上表面紧贴栅极绝缘层(2)的底面,所述金属栅极(3)的外表面被栅极绝缘层(2)包裹。
6.根据权利要求1所述的一种IGZO阵列基板,其特征在于:所述钝化层PV一(6)包裹两个金属源漏极(5),所述金属源漏极(5)的一侧面低端设置为开口,所述半导体有源层(4)的左右两端分别设置两个金属源漏极(5)的开口处。
7.一种配线结构,其特征在于,应用于如权利要求1-6中任意一项所述的IGZO阵列基板。
8.根据权利要求7所述的一种配线结构,其特征在于:所述配线结构的配线区采用dualtrace与double trace搭配的方式,在封框胶区(16)域外,采用可减小配线区寄生电容的dual trace结构,封框胶区(16)域采用double trace结构。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的