[发明专利]一种竖直照射式芯片检测用垂直固定装置

权利要求书

1.一种竖直照射式芯片检测用垂直固定装置，包括底座(1)，其特征在于：底座(1)的上表面前端固定装有电动推杆(2)，电动推杆(2)的上方固定安装有支撑板(3)，底座(1)的上表面位于电动推杆(2)的后方固定装有固定部(4)，固定部(4)的内部转动连接有第一旋转机构(5)，第一旋转机构(5)的自由端固定安装有旋转部(6)，旋转部(6)的内部转动连接有第二旋转机构(7)，第二旋转机构(7)的中部固定安装有延伸架(8)；

所述延伸架(8)的前端固定安装有固定框(9)，固定框(9)的前端固定安装有固定板(10)，固定框(9)的前端固定安装有电机(11)，电机(11)的输出端贯穿固定板(10)并延伸至固定板(10)的前方，电机(11)的输出端固定安装有绕线轮(12)；

所述固定板(10)的开设有承载槽(13)，承载槽(13)的内部两侧开设有限位槽(14)，承载槽(13)的内部滑动连接有承载块(15)，承载块(15)的两侧固定安装有限位块(16)，限位块(16)滑动连接在承载槽(13)的内部，承载槽(13)远离固定板(10)中心的一端内部固定安装有固定磁板(17)，承载槽(13)靠近固定磁板(17)的一侧固定安装有移动磁板(18)，承载块(15)的前端固定安装有支撑架(19)，支撑架(8)靠近绕线轮(12)的一侧固定连接有牵引绳(20)，牵引绳(20)远离支撑架(8)的一端与绕线轮(12)固定连接，支撑架(8)的远离承载块(15)的一端固定连接有套筒(21)，套筒(21)的前端固定安装有吸盘(30)，套筒(21)的上方连接并贯通有磁豆斗(22)，套筒(21)的内部固定安装有电动伸缩杆(23)，电动伸缩杆(23)的前端固定安装有推板(24)，固定板(10)背部位于套筒(21)的后方固定安装有磁通量检测计(25)。

2.根据权利要求1所述的一种竖直照射式芯片检测用垂直固定装置，其特征在于：所述第一旋转机构(5)包括中心轴(26)，中心轴(26)的外表面固定安装有摩擦盘(27)，摩擦盘(27)的底端固定安装有磁固定板(28)，摩擦盘(27)外表面卡接有卡钳(29)，中心轴(26)一端与固定部(4)转动连接，另一端与旋转部(6)固定连接，卡钳(29)与固定部(4)固定连接，固定部(4)的内部固定安装有与固定磁板(17)适配的推动磁板(31)。

3.根据权利要求1所述的一种竖直照射式芯片检测用垂直固定装置，其特征在于：所述第一旋转机构(5)和第二旋转机构(7)形状结构相同，第一旋转机构(5)与第二旋转机构(7)相互垂直。

4.根据权利要求1所述的一种竖直照射式芯片检测用垂直固定装置，其特征在于：所述固定板(10)的前端固定安装有张紧柱(32)，张紧柱(32)位于绕线轮(12)和支撑架(8)之间。

5.根据权利要求1所述的一种竖直照射式芯片检测用垂直固定装置，其特征在于：所述承载槽(13)的数量为四个，四个承载槽(13)均位于固定板(10)中心点与四角之间的连线上。

6.根据权利要求1所述的一种竖直照射式芯片检测用垂直固定装置，其特征在于：所述磁豆斗(22)的内部设置有圆片磁铁，圆片磁铁的前端涂抹胶体，磁豆斗(22)开口始终位于上端，磁豆斗(22)倾斜设置，圆片磁铁的背部与磁豆斗(22)接触。