[发明专利]一种板材反射率测试系统在审

专利信息
申请号: 202111451164.2 申请日: 2021-12-01
公开(公告)号: CN114136997A 公开(公告)日: 2022-03-04
发明(设计)人: 王岩;张英南;巢增明;李宁 申请(专利权)人: 北京环境特性研究所
主分类号: G01N22/00 分类号: G01N22/00
代理公司: 北京格允知识产权代理有限公司 11609 代理人: 刘晓
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 板材 反射率 测试 系统
【说明书】:

本申请涉及反射率测试技术领域,尤其涉及一种板材反射率测试系统。该反射率测试系统由架体、天线挂架、收发天线、支撑装置、吸波装置、矢量网络分析仪和控制机构成。所述架体为直径不小于6.5米的半圆形支架,该支架能够使测试系统应用于宽频板材的测试;所述支撑装置包括基座、支撑杆、承台和上盖,所述承台侧壁的上部设置有斜切面,能够将入射到所述承台上的电磁波散射到其它方向上;所述承台和所述上盖的内部设置有加热组件,能够控制测试板材的加热温度。该申请提供的板材反射率测试系统操作简便,能够在高温、大角度、宽频的条件下精确测试板材的反射率。

技术领域

本申请涉及反射率测试技术领域,特别涉及一种板材反射率测试系统。

背景技术

雷达反射率测试是评估雷达隐身材料性能的重要手段,在雷达隐身材料的研制和性能评估阶段发挥关键作用。

现有技术中,平板材料雷达反射率的测试方法主要有两种:一种是微波暗室内基于紧缩场的远场法,一种是近场法。暗室法一般基于平面波测试,背景环境好、测试精度高,但是测试系统复杂、构建成本高,一般仅用于材料最终鉴定评估测试,且该方法很难实现高温条件下的测试。近场法系统结构相对简单,测试方便,通常用于材料研制阶段的多次反复比对测试,该方法应用范围较广,但主要是针对常温测试系统,在高温环境下很难保证测试的精度,且不能满足大角度和宽频条件下的测试要求。

因此,目前亟待需要一种板材反射率测试系统来解决上述问题。

发明内容

本申请提供了一种板材反射率测试系统,能够在大角度、宽频的条件下精确测试高温板材的反射率。

本申请实施例提供了一种板材反射率测试系统,包括:架体、天线挂架、收发天线、支撑装置、吸波装置、矢量网络分析仪和控制机;其中,

所述天线挂架可移动的设置于所述架体上,用于安装所述收发天线,以带动所述收发天线沿所述架体移动;

所述支撑装置设置于所述吸波装置的上部,包括基座、支撑杆、承台和上盖;所述支撑杆的下端设置于所述基座上,所述支撑杆的上端与所述承台连接,用于支撑所述承台;所述承台的侧壁上部为斜切面,用于将入射到所述承台上的电磁波散射到其它方向上;所述上盖用于封盖测试板材;所述承台和所述上盖内部设置有加热组件,所述加热组件与所述控制机通讯连接,用于控制测试板材的加热温度;

所述吸波装置设置于所述架体底端的内侧,用于构建低散射的测试背景环境;

所述控制机与所述矢量网络分析仪通讯连接,用于控制所述矢量网络分析仪,以设置测试频率、校准方式和数据采集通道。

在一种可能的设计中,所述斜切面与水平面的夹角为45°。

在一种可能的设计中,所述承台的内壁和所述上盖的内壁为陶瓷材料,所述加热组件采用电阻丝加热。

在一种可能的设计中,所述承台的顶端设有凹槽,所述凹槽用于盛装所述测试板材,所述凹槽的尺寸大于测试板材的尺寸,所述凹槽的深度小于或等于所述测试板材的厚度。

在一种可能的设计中,所述架体为半圆形支架,所述半圆形支架的直径不小于6.5米。

在一种可能的设计中,所述架体顶端的中心位置设有第一激光定位装置。

在一种可能的设计中,所述架体上设置有刻度线,所述天线挂架内部设置有伺服控制组件,所述伺服控制组件与所述控制机通讯连接,用于接收所述控制机的调整指令,以带动所述收发天线移动至所述架体相应的刻度上。

在一种可能的设计中,所述天线挂架上设置有微调组件,用于调整所述收发天线的角度,以使所述收发天线的波束中心对准测试板材的中心位置。

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