[发明专利]一种板材反射率测试系统

权利要求书

1.一种板材反射率测试系统，其特征在于，包括：架体(1)、天线挂架(2)、收发天线(3)、支撑装置(4)、吸波装置(5)、矢量网络分析仪(6)和控制机(7)；其中，

所述天线挂架(2)可移动的设置于所述架体(1)上，用于安装所述收发天线(3)，以带动所述收发天线(3)沿所述架体(1)移动；

所述支撑装置(4)设置于所述吸波装置(5)的上部，包括基座(41)、支撑杆(42)、承台(43)和上盖(44)；所述支撑杆(42)的下端设置于所述基座(41)上，所述支撑杆(42)的上端与所述承台(43)连接，用于支撑所述承台(43)；所述承台(43)的侧壁上部为斜切面(431)，用于将入射到所述承台(43)上的电磁波散射到其它方向上；所述上盖(44)用于封盖测试板材；所述承台(43)和所述上盖(44)内部设置有加热组件，所述加热组件与所述控制机(7)通讯连接，用于控制测试板材的加热温度；

所述吸波装置(5)设置于所述架体(1)底端的内侧，用于构建低散射的测试背景环境；

所述控制机(7)与所述矢量网络分析仪(6)通讯连接，用于控制所述矢量网络分析仪(6)，并设置测试频率、校准方式和数据采集通道。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述斜切面(431)与水平面的夹角为45°。

3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述承台(43)的内部和所述上盖(44)的内部为陶瓷材料，所述加热组件采用电阻丝加热。

4.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述承台(43)的顶端设有凹槽(432)，所述凹槽(432)用于盛装所述测试板材，所述凹槽(432)的尺寸大于测试板材的尺寸，所述凹槽(432)的深度小于或等于所述测试板材的厚度。

5.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述架体(1)为半圆形支架，所述半圆形支架的直径不小于6.5米。

6.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述架体(1)顶端的中心位置设有第一激光定位装置。

7.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述架体(1)上设置有刻度线，所述天线挂架(2)内部设置有伺服控制组件，所述伺服控制组件与所述控制机(7)通讯连接，用于接收所述控制机(7)的调整指令，以带动所述收发天线(3)移动至所述架体(1)相应的刻度上。

8.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述天线挂架(2)上设置有微调组件，所述微调组件用于调整所述收发天线(3)的角度，以使所述收发天线(3)的波束中心对准测试板材的中心位置。

9.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，还包括机械手(8)，所述机械手包括立杆(81)和支臂(82)，所述支臂(82)的一端可移动地设置于所述立杆(81)上，所述支臂(82)的另一端与所述上盖(44)连接，用于带动所述上盖(44)沿所述立杆(81)上下移动和旋转。