[发明专利]一种薄膜缺陷喷码补喷处理方法及处理系统

说明书

本发明提供了一种薄膜缺陷喷码补喷处理方法及处理系统，该方法包括：缺陷坐标处理，检测喷码缺陷，看是否存在光学检测设备过载的区域，是否存在喷码机来不及喷码的区域，是否存在缺陷成团簇状尺寸较大的区域，并对应处理为响应的缺陷坐标；在薄膜边缘一侧以设定间隔距离喷二维码进行坐标定位，所述二维码的内容对应卷料信息和与上一个二维码之间间隔段的缺陷坐标信息；对缺陷坐标进行处理，得到补喷缺陷列表；坐标转换处理，下工序读取二维码，每读取一个二维码，提取出对应的缺陷坐标，进行坐标转换，转换成补喷喷码坐标；进行补喷。采用本发明的技术方案，可以将喷码率从98%提升到100%；避免人力物力的浪费，降低了客诉的风险。

技术领域

本发明属于喷码检测技术领域，尤其涉及一种薄膜缺陷喷码补喷处理方法及处理系统。

背景技术

现有的薄膜喷码技术，是通过实时在线光学检测设备检测出薄膜产品上的缺陷，获取位置信息（X坐标、Y坐标），并将该缺陷的位置信息反馈给喷码控制系统，由喷码控制系统控制伺服轴移动到对应位置或者控制对应喷码机触发喷码。但是，这种喷码技术主要存在如下三个漏洞：

1)当缺陷密集爆量时，光学检测设备容易出现过载，导致缺陷未反馈给喷码机，导致该区域漏喷。

2)当缺陷较为密集时，喷码机来不及喷码，导致大量缺陷被丢弃，导致该区域漏喷。

3)当缺陷较大成团簇状，光学检测设备把缺陷当成一个缺陷，然而实际上缺陷覆盖区域较广，导致薄膜分切成块时，相邻块没有喷码标识，导致造成该薄膜块漏喷。

上述这3个漏洞的存在，造成薄膜分切后的片材存在应该喷码但未喷码的不良品没有标记，从而导致不良品未能识别出来，发给了客户，造成客诉。

发明内容

针对以上技术问题，本发明公开了一种薄膜缺陷喷码补喷处理方法及处理系统，降低了不良品的流出几率。

对此，本发明采用的技术方案为：

一种薄膜缺陷喷码补喷处理方法，其包括 ：

缺陷坐标处理，检测喷码缺陷，看是否存在光学检测设备过载的区域，是否存在喷码机来不及喷码的区域，是否存在缺陷成团簇状尺寸较大的区域；对光学检测设备过载的区域，将过载区段的坐标进行坐标转换，按照幅宽转为覆盖幅宽的集合式缺陷坐标；若存在喷码机来不及喷码的区域，则获取未喷码的缺陷坐标；对缺陷成团簇状的面区域，提取该面区域的X、Y轴的边界坐标，将该缺陷位置转换为覆盖整个缺陷面区域的多个缺陷坐标；

缺陷坐标定位处理，在薄膜边缘一侧以设定间隔距离喷二维码进行坐标定位，所述二维码的内容对应卷料信息和与上一个二维码之间间隔段的缺陷坐标信息；

数据汇整处理，根据每个二维码信息，对缺陷坐标进行处理，得到每个二维码对应间隔段的补喷缺陷列表；

坐标转换处理，下工序读取二维码，每读取一个二维码，就从对应当前二维码的补喷缺陷列表中提取出对应的缺陷坐标，进行坐标转换，转换成补喷喷码坐标；

补喷处理，当补喷喷码坐标的薄膜移动到喷头位置时，触发相应喷头进行喷码。

采用此技术方案，针对不同类型的缺陷，分别进行处理，使其在补喷工序可以对缺陷进行标识，并可以在产品裁切阶段都能通过喷码进行识别，提高了产品了良率，降低了不良品的流出几率。

作为本发明的进一步改进，所述数据汇整处理包括：将光学检测设备过载转换的缺陷坐标、喷码机来不及喷码的缺陷坐标、缺陷团簇较大转换的缺陷坐标合并成到一个缺陷列表中，根据设定的长度/宽度进行网格化处理，同一个网格内的坐标，只保留一个缺陷的缺陷坐标，得到每个间隔段的补喷缺陷列表。采用此技术方案，通过网格化处理，可以更方便后续的补喷，而且保证了不良表面有喷码标识。