[发明专利]一种薄膜缺陷喷码补喷处理方法及处理系统

权利要求书

1.一种薄膜缺陷喷码补喷处理方法，其特征在于，其包括 ：

缺陷坐标处理，检测喷码缺陷，看是否存在光学检测设备过载的区域，是否存在喷码机来不及喷码的区域，是否存在缺陷成团簇状的面区域；对光学检测设备过载的区域，将过载的区域的坐标进行坐标转换，按照幅宽转为覆盖幅宽的集合式的缺陷坐标；若存在喷码机来不及喷码的区域，则获取未喷码的缺陷坐标；对缺陷成团簇状的面区域，提取该缺陷成团簇状的面区域的X、Y轴的边界坐标，将该缺陷成团簇状的面区域转换为覆盖整个缺陷面区域的多个缺陷坐标；

缺陷坐标定位处理，在薄膜边缘一侧以设定间隔距离喷二维码进行坐标定位，所述二维码的内容对应卷料信息和与上一个二维码之间间隔段的缺陷坐标信息；

数据汇整处理，根据每个二维码信息，对缺陷坐标进行处理，得到每个二维码对应间隔段的补喷缺陷列表；

坐标转换处理，下一工序读取二维码，每读取一个二维码，就从对应当前二维码的补喷缺陷列表中提取出对应的缺陷坐标，进行坐标转换，转换成补喷喷码坐标；

补喷处理，当补喷喷码坐标的薄膜移动到喷头位置时，触发相应喷头进行喷码。

2.根据权利要求1所述的薄膜缺陷喷码补喷处理方法，其特征在于：所述数据汇整处理包括：将光学检测设备过载转换的缺陷坐标、喷码机来不及喷码的缺陷坐标、缺陷团簇较大转换的缺陷坐标合并成到一个缺陷列表中，根据设定的长度/宽度进行网格化处理，同一个网格内的坐标，只保留一个缺陷的缺陷坐标，得到每个间隔段的补喷缺陷列表。

3.根据权利要求2所述的薄膜缺陷喷码补喷处理方法，其特征在于：所述缺陷坐标处理中，对于光学检测设备过载的区域，按照薄膜幅宽方向将膜面平均分出m份，按照薄膜行进方向按照所需最小尺寸片材的长度分成N分，覆盖幅宽的缺陷坐标为((X1,Y1),(X1,Y2),…,(X1,Yn),(X2,Y1),(X2,Y2),…,(X2,Yn),…,(Xm,Y1),(Xm,Y2),…,(Xm,Yn))；

对缺陷成团簇状的面区域，提取该面区域的幅宽方向X轴的左右边界坐标Xa、Xb，以及薄膜行进方向Y轴的下上边界坐标Ya、Yb，将该面区域的缺陷坐标处理为(Xa+L,Ya+W),…(Xa+L,Ya+dW),…,(Xa+2L,Ya+W),…,(Xa+2L,Ya+dW),…,(Xa+cL,Ya+W),(Xa+cL,Ya+2W),…,(Xa+cL,Ya+dW)，其中，L小于所需片材的最小X轴尺寸，W小于所需片材的最小Y轴尺寸。

4.根据权利要求2所述的薄膜缺陷喷码补喷处理方法，其特征在于：所述数据汇整处理中，根据补喷工序喷头数量m，X坐标按照坐标从小到大依次按照补喷喷头序号转换成k，其中，k为不大于m的正整数；Y坐标保持不变。

5. 根据权利要求4所述的薄膜缺陷喷码补喷处理方法，其特征在于： 所述坐标转换处理中，下一工序读取二维码时，按照薄膜的行进方向，如果薄膜一侧的二维码在喷码机工序与补喷工序位于同侧，则补喷喷码坐标的X坐标不变；如果薄膜一侧的二维码在喷码机工序与补喷工序位于不同侧，则对喷码X坐标进行转换，将喷码X坐标进行转换(m+1-k)，其中，m为喷头数量；

缺陷坐标的Y坐标根据当站工序的Y坐标按照如下公式转换成Y2’，

Y2’=abs(Y0-Y2)+Y1，

上式中，Y0是二维码中的缺陷坐标的Y坐标，Y1是二维码识别站的当站坐标；Y2为当前二维码下一间隔段的待喷码的Y坐标。