[发明专利]一种P型掺杂控制栅的浮栅型分栅闪存工艺方法在审
申请号: | 202111344989.4 | 申请日: | 2021-11-15 |
公开(公告)号: | CN114038852A | 公开(公告)日: | 2022-02-11 |
发明(设计)人: | 许昭昭 | 申请(专利权)人: | 华虹半导体(无锡)有限公司 |
主分类号: | H01L27/11521 | 分类号: | H01L27/11521;H01L27/11517;H01L27/11558 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 刘昌荣 |
地址: | 214028 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 掺杂 控制 浮栅型分栅 闪存 工艺 方法 | ||
本发明公开了一种P型掺杂控制栅的浮栅分栅闪存的制造工艺方法,其工艺方法步骤如下:S1:定义浮栅闪存和外围逻辑区的有源区;S2:注入形成浮栅存储晶体管防穿通、阈值电压的P型注入层;S3:进行CG‑Poly第一次刻蚀并注入离子形成调整选择管器件阈值电压注入层;S4:通过CMP方式形成自对准的选择栅;S5:进行低能量、大剂量、大倾斜角度的P型杂质注入对CG‑Poly掺杂;S6:依次进行LDD注入、第三侧墙沉积和刻蚀、源漏注入;本发明采用在第二次刻蚀CG‑Poly之前或者在第二次刻蚀CG‑Poly之后进行低能量、大剂量、大倾斜角度的P型杂质注入对CG‑Poly掺杂,由于将CG‑Poly的掺杂注入放置在第二次CG‑Poly刻蚀之后,使得注入的P型杂质离子经历更少的热过程推进,减少了CG‑Poly中P型杂质离子的向其他材料的扩散,提高了工艺的兼容性。
技术领域
本发明涉及闪存技术领域,具体是一种P型掺杂控制栅的浮栅型分栅闪存工艺方法。
背景技术
闪存是一种非易失性存储器,即断电数据也不会丢失。因为闪存不像RAM(随机存取存储器)一样以字节为单位改写数据,因此不能取代RAM。闪存卡(Flash Card)是利用闪存(Flash Memory)技术达到存储电子信息的存储器,一般应用在数码相机,掌上电脑,MP3等小型数码产品中作为存储介质,所以样子小巧,有如一张卡片,所以称之为闪存卡。根据不同的生产厂商和不同的应用,闪存卡大概有SmartMedia(SM卡)、Compact Flash(CF卡)、MultiMediaCard(MMC卡)、Secure Digital(SD卡)、Memory Stick(记忆棒)、XD-PictureCard(XD卡)和微硬盘(MICRODRIVE)这些闪存卡虽然外观、规格不同,但是技术原理都是相同的。NOR型与NAND型闪存的区别很大,打个比方说,NOR型闪存更像内存,有独立的地址线和数据线,但价格比较贵,容量比较小;而NAND型更像硬盘,地址线和数据线是共用的I/O线,类似硬盘的所有信息都通过一条硬盘线传送一般,而且NAND型与NOR型闪存相比,成本要低一些,而容量大得多。因此,NOR型闪存比较适合频繁随机读写的场合,通常用于存储程序代码并直接在闪存内运行,手机就是使用NOR型闪存的大户,所以手机的“内存”容量通常不大;NAND型闪存主要用来存储资料,我们常用的闪存产品,如闪存盘、数码存储卡都是用NAND型闪存。这里我们还需要端正一个概念,那就是闪存的速度其实很有限,它本身操作速度、频率就比内存低得多,而且NAND型闪存类似硬盘的操作方式效率也比内存的直接访问方式慢得多。因此,不要以为闪存盘的性能瓶颈是在接口,甚至想当然地认为闪存盘采用USB2.0接口之后会获得巨大的性能提升。前面提到NAND型闪存的操作方式效率低,这和它的架构设计和接口设计有关,它操作起来确实挺像硬盘(其实NAND型闪存在设计之初确实考虑了与硬盘的兼容性),它的性能特点也很像硬盘:小数据块操作速度很慢,而大数据块速度就很快,这种差异远比其他存储介质大的多。这种性能特点非常值得我们留意。闪存存取比较快速,无噪音,散热小。用户空间容量需求量小的,打算购置的话可以不考虑太多,同样存储空间买闪存。如果需要容量空间大的(如500G),就买硬盘,较为便宜,也可以满足用户应用的需求。闪存(Flash)存储器已经成为非易失性半导体存储技术的主流。闪存存储器分为两种类型:叠栅式闪存和分栅式闪存分栅(split-gate)闪存技术被广泛用于各种嵌入式电子产品如金融IC卡、汽车电子等应用。
现有的2-bit/cell(二比特每存储单元)的分栅浮栅闪存的结构如图1所示,制造流程如图2所示。随着器件控制栅的不断微缩,控制栅对沟道的控制越来弱,使得Flashcell的编程之后的阈值电压(Vtp)降低了~1.5V,因此使得器件的漏电(Ir01)急剧增加。因此为了降低Ir01,必须增加器件注入浮栅存储晶体管防穿通、阈值电压的P型注入层的剂量,但是增加浮栅存储晶体管防穿通、阈值电压的P型注入的剂量,会使得器件的结击穿电压降低。
发明内容
本发明的目的在于提供一种P型掺杂控制栅的浮栅型分栅闪存工艺方法,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的