[发明专利]一种P型掺杂控制栅的浮栅型分栅闪存工艺方法在审

专利信息
申请号: 202111344989.4 申请日: 2021-11-15
公开(公告)号: CN114038852A 公开(公告)日: 2022-02-11
发明(设计)人: 许昭昭 申请(专利权)人: 华虹半导体(无锡)有限公司
主分类号: H01L27/11521 分类号: H01L27/11521;H01L27/11517;H01L27/11558
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 刘昌荣
地址: 214028 江*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 掺杂 控制 浮栅型分栅 闪存 工艺 方法
【说明书】:

发明公开了一种P型掺杂控制栅的浮栅分栅闪存的制造工艺方法,其工艺方法步骤如下:S1:定义浮栅闪存和外围逻辑区的有源区;S2:注入形成浮栅存储晶体管防穿通、阈值电压的P型注入层;S3:进行CG‑Poly第一次刻蚀并注入离子形成调整选择管器件阈值电压注入层;S4:通过CMP方式形成自对准的选择栅;S5:进行低能量、大剂量、大倾斜角度的P型杂质注入对CG‑Poly掺杂;S6:依次进行LDD注入、第三侧墙沉积和刻蚀、源漏注入;本发明采用在第二次刻蚀CG‑Poly之前或者在第二次刻蚀CG‑Poly之后进行低能量、大剂量、大倾斜角度的P型杂质注入对CG‑Poly掺杂,由于将CG‑Poly的掺杂注入放置在第二次CG‑Poly刻蚀之后,使得注入的P型杂质离子经历更少的热过程推进,减少了CG‑Poly中P型杂质离子的向其他材料的扩散,提高了工艺的兼容性。

技术领域

本发明涉及闪存技术领域,具体是一种P型掺杂控制栅的浮栅型分栅闪存工艺方法。

背景技术

闪存是一种非易失性存储器,即断电数据也不会丢失。因为闪存不像RAM(随机存取存储器)一样以字节为单位改写数据,因此不能取代RAM。闪存卡(Flash Card)是利用闪存(Flash Memory)技术达到存储电子信息的存储器,一般应用在数码相机,掌上电脑,MP3等小型数码产品中作为存储介质,所以样子小巧,有如一张卡片,所以称之为闪存卡。根据不同的生产厂商和不同的应用,闪存卡大概有SmartMedia(SM卡)、Compact Flash(CF卡)、MultiMediaCard(MMC卡)、Secure Digital(SD卡)、Memory Stick(记忆棒)、XD-PictureCard(XD卡)和微硬盘(MICRODRIVE)这些闪存卡虽然外观、规格不同,但是技术原理都是相同的。NOR型与NAND型闪存的区别很大,打个比方说,NOR型闪存更像内存,有独立的地址线和数据线,但价格比较贵,容量比较小;而NAND型更像硬盘,地址线和数据线是共用的I/O线,类似硬盘的所有信息都通过一条硬盘线传送一般,而且NAND型与NOR型闪存相比,成本要低一些,而容量大得多。因此,NOR型闪存比较适合频繁随机读写的场合,通常用于存储程序代码并直接在闪存内运行,手机就是使用NOR型闪存的大户,所以手机的“内存”容量通常不大;NAND型闪存主要用来存储资料,我们常用的闪存产品,如闪存盘、数码存储卡都是用NAND型闪存。这里我们还需要端正一个概念,那就是闪存的速度其实很有限,它本身操作速度、频率就比内存低得多,而且NAND型闪存类似硬盘的操作方式效率也比内存的直接访问方式慢得多。因此,不要以为闪存盘的性能瓶颈是在接口,甚至想当然地认为闪存盘采用USB2.0接口之后会获得巨大的性能提升。前面提到NAND型闪存的操作方式效率低,这和它的架构设计和接口设计有关,它操作起来确实挺像硬盘(其实NAND型闪存在设计之初确实考虑了与硬盘的兼容性),它的性能特点也很像硬盘:小数据块操作速度很慢,而大数据块速度就很快,这种差异远比其他存储介质大的多。这种性能特点非常值得我们留意。闪存存取比较快速,无噪音,散热小。用户空间容量需求量小的,打算购置的话可以不考虑太多,同样存储空间买闪存。如果需要容量空间大的(如500G),就买硬盘,较为便宜,也可以满足用户应用的需求。闪存(Flash)存储器已经成为非易失性半导体存储技术的主流。闪存存储器分为两种类型:叠栅式闪存和分栅式闪存分栅(split-gate)闪存技术被广泛用于各种嵌入式电子产品如金融IC卡、汽车电子等应用。

现有的2-bit/cell(二比特每存储单元)的分栅浮栅闪存的结构如图1所示,制造流程如图2所示。随着器件控制栅的不断微缩,控制栅对沟道的控制越来弱,使得Flashcell的编程之后的阈值电压(Vtp)降低了~1.5V,因此使得器件的漏电(Ir01)急剧增加。因此为了降低Ir01,必须增加器件注入浮栅存储晶体管防穿通、阈值电压的P型注入层的剂量,但是增加浮栅存储晶体管防穿通、阈值电压的P型注入的剂量,会使得器件的结击穿电压降低。

发明内容

本发明的目的在于提供一种P型掺杂控制栅的浮栅型分栅闪存工艺方法,以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华虹半导体(无锡)有限公司,未经华虹半导体(无锡)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111344989.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top