[发明专利]芯片挑选方法及装置

说明书

本发明提供一种芯片挑选方法，包括：向测试机发送测试开始指令，以使测试机将待测试的芯片安装在测试主板上并向测试主板供电；通过测试主板的联合测试工作组接口，读取芯片的第一序列号；将芯片的第一序列号与预先存储的序列号列表进行比对，当序列号列表中存在第二序列号与第一序列号匹配时，确定当前的芯片为目标芯片；当序列号列表中不存在第二序列号与第一序列号匹配时，向测试机发送断电指令，以使测试机将测试主板断电并取下当前的芯片。本发明提供的芯片挑选方法，能够在不进入操作系统的情况下，通过联合测试工作组接口读取第一序列号，并将第一序列号与序列号列表中进行比对，从而能够节省挑选时长，提高效率。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片挑选方法及装置。

背景技术

在芯片测试过程中，有时需要将特定的芯片从众多的芯片中挑选出来。在挑选时，通常是通过人工识别芯片表面的序列号或者扫描识别码来识别出芯片的序列号，这种方法依赖于芯片表面的序列号或者识别码，在工程研发阶段，通常不会在芯片表面形成识别码或者序列号，因此，通常需要将芯片设置在机器中，再开机进入操作系统中，通过在操作系统中执行脚本读取芯片的序列号。

在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下技术问题：

由于每个芯片都需要进行开机和执行脚本的过程，因此，需要消耗较多的时间，效率极低。

发明内容

本发明提供的芯片挑选方法及装置，能够在不进入操作系统的情况下，通过联合测试工作组接口读取第一序列号，并将第一序列号与序列号列表中进行比对，从而能够节省挑选时长，提高效率。

第一方面，本发明提供一种芯片挑选方法，执行于测试服务器，包括：

向测试机发送测试开始指令，以使所述测试机将待测试的芯片安装在测试主板上并向所述测试主板供电；

通过测试主板的联合测试工作组接口，读取所述芯片的第一序列号；

将所述芯片的第一序列号与预先存储的序列号列表进行比对，当所述序列号列表中存在第二序列号与第一序列号匹配时，确定当前的芯片为目标芯片；

当序列号列表中不存在第二序列号与第一序列号匹配时，向所述测试机发送断电指令，以使所述测试机将所述测试主板断电并取下当前的芯片。

可选地，还包括：向测试机发送温度配置指令，以使所述测试机保持预定的测试温度。

可选地，向所述测试机发送断电指令之后，还包括：判断当前的芯片是否为最后一个芯片，当当前芯片是最后一个芯片时，结束芯片挑选；当当前芯片不是最后一个芯片时，重新向所述测试机发送测试开始指令，以使所述测试机将下一个待测试的芯片安装在测试主板上并向所述测试主板供电。

可选地，确定当前的芯片为目标芯片之后还包括：向所述测试机发送测试结束指令，以使所述测试机控制所述测试主板断电并结束芯片挑选。

第二方面，本发明提供一种芯片挑选方法，执行于测试机，包括：

接收测试服务器发送的测试开始指令，依据所述测试开始指令将待测试的芯片安装在测试主板上并向测试主板供电使主板冷启动；以使所述测试服务器通过测试主板的联合测试工作组接口，读取所述芯片的第一序列号，将所述芯片的第一序列号与预先存储的序列号列表进行比对；

接收测试服务器发送的断电指令，依据所述断电指令将所述测试主板断电并取下当前的芯片，所述断电指令是当序列号列表中不存在第二序列号与第一序列号匹配时，所述测试服务器发送的指令。

可选地，还包括，接收所述测试服务器发送的温度配置指令，并响应所述温度配置指令保持预定的测试温度；其中，所述温度配置指令是测试服务器启动测试程序之后发送的温度配置指令。

可选地，在接收所述断电指令之后，还包括：