[发明专利]芯片挑选方法及装置

权利要求书

1.一种芯片挑选方法，其特征在于，执行于测试服务器，包括：

向测试机发送测试开始指令，以使所述测试机将待测试的芯片安装在测试主板上并向所述测试主板供电；

通过测试主板的联合测试工作组接口，读取所述芯片的第一序列号；

将所述芯片的第一序列号与预先存储的序列号列表进行比对，当所述序列号列表中存在第二序列号与第一序列号匹配时，确定当前的芯片为目标芯片；

当序列号列表中不存在第二序列号与第一序列号匹配时，向所述测试机发送断电指令，以使所述测试机将所述测试主板断电并取下当前的芯片。

2.根据权利要求1所述芯片挑选方法，其特征在于，还包括：向测试机发送温度配置指令，以使所述测试机保持预定的测试温度。

3.根据权利要求1所述芯片挑选方法，其特征在于，向所述测试机发送断电指令之后，还包括：判断当前的芯片是否为最后一个芯片，当当前芯片是最后一个芯片时，结束芯片挑选；当当前芯片不是最后一个芯片时，重新向所述测试机发送测试开始指令，以使所述测试机将下一个待测试的芯片安装在测试主板上并向所述测试主板供电。

4.根据权利要求1所述芯片挑选方法，其特征在于，确定当前的芯片为目标芯片之后还包括：向所述测试机发送测试结束指令，以使所述测试机控制所述测试主板断电并结束芯片挑选。

5.一种芯片挑选方法，其特征在于，执行于测试机，包括：

接收测试服务器发送的测试开始指令，依据所述测试开始指令将待测试的芯片安装在测试主板上并向测试主板供电使主板冷启动；以使所述测试服务器通过测试主板的联合测试工作组接口，读取所述芯片的第一序列号，将所述芯片的第一序列号与预先存储的序列号列表进行比对；

接收测试服务器发送的断电指令，依据所述断电指令将所述测试主板断电并取下当前的芯片，所述断电指令是当序列号列表中不存在第二序列号与第一序列号匹配时，所述测试服务器发送的指令。

6.根据权利要求5所述芯片挑选方法，其特征在于，还包括，接收所述测试服务器发送的温度配置指令，并响应所述温度配置指令保持预定的测试温度；其中，所述温度配置指令是测试服务器启动测试程序之后发送的温度配置指令。

7.根据权利要求5所述芯片挑选方法，其特征在于，在接收所述断电指令之后，还包括：

接收所述测试服务器重新发送的测试开始指令，依据所述测试开始指令将下一个待测试的芯片安装在测试主板上并向测试主板供电使主板冷启动，所述测试开始指令是当当前芯片不是最后一个芯片时，所述测试服务器发送的测试开始指令。

8.根据权利要求5所述芯片挑选方法，其特征在于，接收测试服务器发送的测试开始指令之后还包括：

接收所述测试服务器发送的测试结束指令，并依据所述测试结束指令控制所述测试主板断电并结束芯片挑选；所述测试结束指令是指当所述序列号列表中存在第二序列号与第一序列号匹配时，确定当前的芯片为目标芯片之后发送的测试结束指令。

9.一种芯片挑选装置，其特征在于，应用于测试服务器，包括：

开始模块，用于向测试机发送测试开始指令，以使所述测试机将待测试的芯片安装在测试主板上并向所述测试主板供电；

读取模块，用于通过测试主板的联合测试工作组接口，读取所述芯片的第一序列号；

确定模块，用于将所述芯片的第一序列号与预先存储的序列号列表进行比对，当所述序列号列表中存在第二序列号与第一序列号匹配时，确定当前的芯片为目标芯片；

断电模块，用于当序列号列表中不存在第二序列号与第一序列号匹配时，向所述测试机发送断电指令，以使所述测试机将所述测试主板断电并取下当前的芯片。

10.根据权利要求9所述芯片挑选装置，其特征在于，还包括：配置模块，用于向测试机发送温度配置指令，以使所述测试机保持预定的测试温度。