[发明专利]电子元器件测试方法、测试设备和智能锁在审

专利信息
申请号: 202111332493.5 申请日: 2021-11-11
公开(公告)号: CN114137334A 公开(公告)日: 2022-03-04
发明(设计)人: 陈怡威 申请(专利权)人: 广东名门锁业有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G07C9/00
代理公司: 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 代理人: 李平;杨桦
地址: 528414 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 电子元器件 测试 方法 设备 智能
【说明书】:

发明涉及电子元器件测试技术领域,提供了一种电子元器件测试方法,通过采集待测元器件在执行预设指令时的电流数据后,与标定元器件在执行该预设指令时的电流数据进行对比,分析二者的差异来判断待测元器件的工作状态。既可获取该待测元器件可否正常工作,还可获取该待测元器件可否有效工作。

技术领域

本发明涉及电子元器件测试技术领域,具体的,涉及一种电子元器件测试方法、测试设备和智能锁。

背景技术

电子智能锁相比于传统的机械锁,引入了多种身份识别方法,最常见的包括磁卡、指纹、密码、人脸识别等。对于电子智能锁需要设置发光器件和/或发声器件,来对锁体的启闭及运行状态进行提示。在电子智能锁的使用过程中,若相关的声光器件出现故障,会影响用户对锁体状态的判断,降低锁体的安全性能。因此电子智能锁内通常会设置测试程序,测试声光器件的功能是否正常,例如通过测试发声器件和发光器件内是否有电流,来判断发声器件和发光器件是否能够正常工作,即发声器件能否发出声音、发光器件能否点亮。但是对于其工作的有效性,无法进一步地识别。例如,发声器件所发出的声音分贝过大或过小,存在杂音、爆音现象等;发光器件所发出的光亮度过低或过高。换言之,传统的测试程序只能测试声光器件是否工作,而不能测试工作的有效性,导致电子智能锁中部分工作异常的器件不能被快速、及时地识别。

发明内容

本发明的目的之一在于提供一种电子元器件测试方法,用于测试智能锁中的元器件的工作状态。

为了实现上述目的,第一方面,本发明提供一种电子元器件测试方法,包括:

步骤S11、向元器件发送指令,使元器件进入工作状态;

步骤S12、采集待测元器件在执行所述指令时的电流数值Ii、采集与所述待测元器件同型号且可有效工作的标定元器件在执行所述指令时的电流数值Pi,0<i≤t,t为从所述指令发出起至采集的电流数值为0时的时间;

步骤S13、计算Ii与Pi的比值Ai,统计|Ai-1|>D的数量m,D为预设的第一阈值;

步骤S14、分析待测元器件的工作状态,

若Ai=0,则输出待测元器件未能正常工作的信息,

若m>n,则输出待测元器件未能有效工作的信息,n为第二阈值,

若m≤n,则输出待测元器件可有效工作的信息。

为了实现上述目的,第二方面,本发明提供又一种电子元器件测试方法,包括:

步骤S21、向元器件发送指令,使元器件进入工作状态;

步骤S22、采集待测元器件在执行所述指令时的电流数值Ii、采集与所述待测元器件同型号且可有效工作的标定元器件在执行所述指令时的电流数值,0<i≤t,t为从所述指令发出起至采集的电流数值为0时的时间;

步骤S23、计算Ii与Pi的比值Ai、Ii+j与Pi的比值Ai+j,并统计|Ai-1|>D的数量m、|Ai+j-1|>D的数量mj,D为预设的第一阈值,0<j≤t;

步骤S24、分析待测元器件的工作状态,

若Ai=0,则输出待测元器件未能正常工作的信息;

若m≤n,则输出待测元器件可有效工作的信息,n为第二阈值;

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