[发明专利]电子元器件测试方法、测试设备和智能锁

权利要求书

1.一种电子元器件测试方法，其特征在于，包括：

步骤S11、向元器件发送指令，使元器件进入工作状态；

步骤S12、采集待测元器件在执行所述指令时的电流数值I_i、采集与所述待测元器件同型号且可有效工作的标定元器件在执行所述指令时的电流数值P_i，0＜i≤t，t为从所述指令发出起至采集的电流数值为0时的时间；

步骤S13、计算I_i与P_i的比值A_i，统计|A_i-1|＞D的数量m，D为预设的第一阈值；

步骤S14、分析待测元器件的工作状态，

若A_i＝0，则输出待测元器件未能正常工作的信息，

若m＞n，则输出待测元器件未能有效工作的信息，n为第二阈值，

若m≤n，则输出待测元器件可有效工作的信息。

2.如权利要求1所述的电子元器件测试方法，其特征在于，在步骤S11中，

当所述元器件为发光器件时，所述指令为向所述发光器件施加预设变化频率的电压；

当所述元器件为发声器件时，所述指令为令所述发声器件播放预设的音频。

3.如权利要求2所述的电子元器件测试方法，其特征在于，

所述预设变化频率的电压为由低到高递增的电压，且最低值不大于所述发光器件的最低工作电压，最高值不小于所述发光器件的最高工作电压。

4.一种电子元器件测试方法，其特征在于，

步骤S21、向元器件发送指令，使元器件进入工作状态；

步骤S22、采集待测元器件在执行所述指令时的电流数值I_i、采集与所述待测元器件同型号且可有效工作的标定元器件在执行所述指令时的电流数值P_i，0＜i≤t，t为从所述指令发出起至采集的电流数值为0时的时间；

步骤S23、计算I_i与P_i的比值A_i、I_i+j与P_i的比值A_i+j，并统计|A_i-1|＞D的数量m、|A_i+j-1|＞D的数量m_j，D为预设的第一阈值，0＜j≤t；

步骤S24、分析待测元器件的工作状态，

若A_i＝0，则输出待测元器件未能正常工作的信息；

若m≤n，则输出待测元器件可有效工作的信息，n为第二阈值；

在遍历j的各个取值后，若存在m＞n且m_j≤n，则输出待测元器件可有效工作的信息，反之则输出待测元器件未能有效工作的信息。

5.如权利要求4所述的电子元器件测试方法，其特征在于，

在步骤S23中，所述j的取值包括±50ms、±100ms。

6.一种测试设备，用于测试元器件的工作状态，其特征在于，包括：

控制模块，用于向元器件发送指令，使元器件运行；

数据采集模块，用于采集流经待测元器件的电流数值I_i和流经与待测元器件同型号且可有效工作的标定元器件在执行所述指令时的电流数值P_i，其中，0＜i≤t，t为从所述指令发出起至采集的电流数值为0时的时间；

数据计算模块，用于计算I_i与P_i的比值A_i，并统计|A_i-1|＞D的数量m，D为预设的第一阈值；

数据分析模块，用于分析待测元器件的工作状态，若A_i均为0，则输出待测元器件未能正常工作的信息，若m＞n则输出待测元器件未能有效工作的信息，若m≤n则输出待测元器件可有效工作的信息，其中n为第二阈值。