[发明专利]发光装置在审
申请号: | 202111305371.7 | 申请日: | 2021-11-05 |
公开(公告)号: | CN114050175A | 公开(公告)日: | 2022-02-15 |
发明(设计)人: | 赖柏君;施立伟 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/32 | 分类号: | H01L27/32;G09G3/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光 装置 | ||
本发明公开一种发光装置,包括第一基板、第一主动元件、阻障层、第一感光元件、平坦层以及第一发光二极管。第一主动元件位于第一基板上。阻障层位于第一主动元件上。第一感光元件位于阻障层上。平坦层位于第一感光元件上,且第一感光元件位于阻障层与平坦层之间。第一发光二极管位于平坦层上。第一发光二极管包括第一电极、发光层以及第二电极。第一电极电连接至第一主动元件。第一感光元件在第一基板的法线方向上不被第一电极完全遮蔽。发光层位于第一电极上。第二电极位于发光层上。
技术领域
本发明涉及一种发光装置,且特别是涉及一种具有第一感光元件的发光装置。
背景技术
目前,显示装置在制作完成后,会在工厂中以相机(例如电荷耦合元件相机(Charge-coupled device camera))拍摄显示装置所显示的画面,并以计算机分析显示装置所显示的画面是否有亮度不均匀(Mura)缺陷或其他故障的情形。在确认显示装置没有Mura缺陷或其他故障后,显示装置才会从工厂出货。
然而,许多显示装置会在使用一段时间之后才出现Mura缺陷,若要对这些使用一段时间后才出现的Mura缺陷进行检测,还需要将显示装置运送回工厂,大幅增加检测显示装置所需要的时间以及成本。
发明内容
本发明提供一种发光装置,可以通过本身的感光元件以监控显示品质。
本发明的至少一实施例提供一种发光装置。发光装置包括第一基板、第一主动元件、阻障层、第一感光元件、平坦层以及第一发光二极管。第一主动元件位于第一基板上。阻障层位于第一主动元件上。第一感光元件位于阻障层上。平坦层位于第一感光元件上,且第一感光元件位于阻障层与平坦层之间。第一发光二极管位于平坦层上。第一发光二极管包括第一电极、发光层以及第二电极。第一电极电连接至第一主动元件。第一感光元件在第一基板的法线方向上不被第一电极完全遮蔽。发光层位于第一电极上。第二电极位于发光层上。
附图说明
图1是本发明的一实施例的一种发光装置的剖面示意图;
图2是本发明的一实施例的一种发光装置的上视示意图;
图3A是本发明的一实施例的一种发光装置的上视示意图;
图3B是本发明的一实施例的一种感光元件的检测电路的示意图;
图4是本发明的一实施例的一种发光装置的剖面示意图;
图5是本发明的一实施例的一种发光装置的上视示意图;
图6A是本发明的一实施例的一种发光装置的上视示意图;
图6B是本发明的一实施例的一种感光元件的检测电路的示意图。
符号说明
1、2、3、4:显示装置
100:第一基板
110:阻障层
120:平坦层
130:像素定义层
200:第二基板
210:反射层
220:第一钝化层
230:第二钝化层
240:抗反射层
BL:缓冲层
C:检测电路
CH:沟道层
D:漏极
E1:第一电极
E1s:侧壁
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的