[发明专利]一种半导体芯片分切工艺在审

专利信息
申请号: 202111298233.0 申请日: 2021-11-04
公开(公告)号: CN113878737A 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 张岩 申请(专利权)人: 张岩
主分类号: B28D5/02 分类号: B28D5/02;B28D7/00;B28D7/04;H01L21/78
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 054000*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 芯片 工艺
【说明书】:

本发明公开了一种半导体芯片分切工艺,具体包括以下步骤:S1、利用自动化分切设备对半导体芯片进行分切加工;S2、然后通过检测装置对对分切后的半导体芯片进行质检;S3、质检完成后的半导体芯片通过运输设备进行运输,运输至包装设备时,通过包装设备进行密封包装。其中,步骤S1中的自动化分切设备包括底座,本发明涉及半导体芯片生产技术领域。该半导体芯片分切工艺,通过自动上料机构的设置,便于自动进行上料操作,上料效率高,可将推料和进料分开,自动化程度高,配合自动分料机构,可将上下两个芯片进行分开,防止两个芯片之间相互摩擦,减少芯片损坏的可能,通过压料防卡机构的设置,便于挤压芯片,防止上料时芯片卡住,上料方便。

技术领域

本发明涉及半导体芯片生产技术领域,具体为一种半导体芯片分切工艺。

背景技术

半导体芯片是在半导体片材上进行浸蚀,布线,制成的能实现某种功能的半导体器件。不只是硅芯片,常见的还包括砷化镓(砷化镓有毒,所以一些劣质电路板不要好奇分解它),锗等半导体材料。半导体也像汽车有潮流。二十世纪七十年代,英特尔等美国企业在动态随机存取内存(D-RAM)市场占上风。但由于大型计算机的出现,需要高性能D-RAM的二十世纪八十年代,日本企业名列前茅。

参考中国专利号为CN111730770A一种IC半导体芯片加工用分切装置,包括底箱和支撑板,所述底箱的顶部一端设置有支撑板,支撑板一侧的侧壁上设置有第二电机,与第二电机相邻一侧的支撑板的侧壁上设置有两个滑槽。该IC半导体芯片加工用分切装置,通过推动工作板向切割刀的方向移动,使得工作板沿着卡块进行滑动,实现上料目的,使得工人的手指远离切割刀,对工人进行保护。

综合分析以上参考专利,可得出以下缺陷:

(1)需要通过手动上料的方式才能进行上料,自动化程度低,因分切工作量大,该上料方式效率低,且在上料时有些采用自动推料进行上料,但因半导体芯片易损坏,在进行自动推料的过程中一般是将多个半导体芯片堆叠在一起,依次进行推料,但芯片表面不完全为平整面,导致两个芯片之间相互摩擦时,易造成芯片的损坏,故现有的自动上料方式易造成半导体芯片的损坏;

(2)不便于对上料后的半导体芯片进行自动定位,因分切时,半导体芯片易发生偏移,进而影响分切质量;

(3)在进行分切时,半导体芯片表面易产生碎屑,一般通过人工进行清理,细小的碎屑不易清理,导致工作人员的工作量增大。

因此,本发明提出一种半导体芯片分切工艺,以解决上述提到的问题。

发明内容

针对现有技术的不足,本发明提供了一种半导体芯片分切工艺,解决了需要通过手动上料的方式才能进行上料,自动化程度低,因分切工作量大,该上料方式效率低,且在上料时有些采用自动推料进行上料,但因半导体芯片易损坏,在进行自动推料的过程中一般是将多个半导体芯片堆叠在一起,依次进行推料,但芯片表面不完全为平整面,导致两个芯片之间相互摩擦时,易造成芯片的损坏,故现有的自动上料方式易造成半导体芯片的损坏;不便于对上料后的半导体芯片进行自动定位,因分切时,半导体芯片易发生偏移,进而影响分切质量;在进行分切时,半导体芯片表面易产生碎屑,一般通过人工进行清理,细小的碎屑不易清理,导致工作人员的工作量增大的问题。

为实现以上目的,本发明通过以下技术方案予以实现:一种半导体芯片分切工艺,具体包括以下步骤:

S1、利用自动化分切设备对半导体芯片进行分切加工;

S2、然后通过检测装置对对分切后的半导体芯片进行质检;

S3、质检完成后的半导体芯片通过运输设备进行运输,运输至包装设备时,通过包装设备进行密封包装。

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