[发明专利]一种高精度抑制反光影响的图像识别定位方法及系统在审

专利信息
申请号: 202111272057.3 申请日: 2021-10-29
公开(公告)号: CN114298127A 公开(公告)日: 2022-04-08
发明(设计)人: 赵强;俞杰 申请(专利权)人: 杭州新诺微电子有限公司
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62;G06V10/75;G06V10/30;G06V10/34
代理公司: 浙江永鼎律师事务所 33233 代理人: 陆永强;周祥玉
地址: 311200 浙江省杭州市萧*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 高精度 抑制 反光 影响 图像 识别 定位 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种高精度抑制反光影响的图像识别定位方法,包含如下步骤:

S1、采集图像;

S2、图像强化:增强图像的高频区域,使图像更锐利;

S3、图像去高亮;使用中值滤波去除高亮沟道;

S4、图像平滑:使用均值滤波使图像变均一;

S5、图像二次强化:增强图像的高频区域,使图像更锐利;

S6、将S5中处理的图像生成匹配模板轮廓,为后续进行基于形状的目标匹配做准备;

S7:根据模板的大小和清晰度的要求生成多层级的图像金字塔模型;

S8、图像金字塔中自上而下逐层搜索模板图像,直到搜索到最底层或得到确定的匹配结果为止。

2.根据权利要求1所述的一种高精度抑制反光影响的图像识别定位方法,其特征在于,所述的步骤S2中,增强图像的方法满足如下公式:

res=round((orig-mean)*Factor)+orig

首先对图像做5*5低通滤波得到滤波结果mean,orig是原始图像,Factor=5代表着图像锐利的程度。

3.根据权利要求1或2所述的一种高精度抑制反光影响的图像识别定位方法,其特征在于,所述的步骤S3中,使用15*15中值滤波去除高亮沟道。

4.根据权利要求1或2所述的一种高精度抑制反光影响的图像识别定位方法,其特征在于,所述的步骤S4中,使用11*11均值滤波使图像变均一。

5.根据权利要求1或2所述的一种高精度抑制反光影响的图像识别定位方法,其特征在于,所述的步骤S5中,增强图像的方法满足如下公式:

res=round((orig-mean)*Factor)+orig

首先对图像做9*9低通滤波得到滤波结果mean,orig是原始图像,Factor=20代表着图像锐利的程度。

6.一种高精度抑制反光影响的图像识别定位系统,其特征在于:包括图像获取模块,图像强化模块,图像去高亮模块,图像平滑模块,图像二次强化模块,图像匹配模块。

7.根据权利要求6所述的一种高精度抑制反光影响的图像识别定位系统,其特征在于,所述的图像强化模块采用低通滤波实现图像强化,所述的图像去高亮模块采用中值滤波实现图像去高亮。

8.根据权利要求7所述的一种高精度抑制反光影响的图像识别定位系统,其特征在于,所述的图像平滑模块采用均值滤波使图像变均一,所述的图像二次强化模块采用低通滤波实现强图像强化。

9.根据权利要求6或7或8所述的一种高精度抑制反光影响的图像识别定位系统,其特征在于,所述的图像匹配模块包括金字塔模型生成模块,通过设定模板的大小和清晰度的要求生成多层级的金字塔模型,供图像匹配模块匹配。

10.根据权利要求9所述的一种高精度抑制反光影响的图像识别定位系统,其特征在于,所述的图像匹配模块将图像金字塔中的模型与经过处理后的轮廓图像匹配,直到搜索到最底层或得到确定的匹配结果为止。

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