[发明专利]一种激光器整机用光栅测试系统

说明书

本申请提供一种激光器整机用光栅测试系统，其包括测试平台、激光器、功率测试计、温度测试组件和控制器，激光器包括光学模块，光学模块、功率测试计和温度测试组件分别与控制器相连，其中，控制器用于控制光学模块按照不同设定功率加载出光；控制驱动部驱动温度计移动至待测试光栅的位置处；控制功率测试计和温度测试组件，检测激光器的设定功率对应的激光输出功率和光栅温度；接收激光输出功率和光栅温度；根据设定功率、激光输出功率计算激光功率斜效率；根据光栅温度和激光功率斜效率，判断待测试光栅是否合格，并输出测试结果。提高光栅测试效率、提高测试结果准确性和自动化程度高的技术效果。

技术领域

本申请属于激光器技术领域，尤其涉及一种激光器整机用光栅测试系统。

背景技术

为了保持激光器的稳定性，需要对HR（长周期光纤光栅）和OC（短周期光纤光栅）的使用可靠性进行测试，测试的指标包括光栅温度、温升和激光功率斜效率等，现有技术中，由工作人员分别检测记录光栅温度、功率，再做表格计算，激光功率斜效率光栅温度激光功率斜效率判断激光器光栅是否合格。人工测试效率低、数据记录易出错、测试结果不可靠。

发明内容

本申请实施例提供一种激光器整机用光栅测试系统，以解决现有的光栅测试采用人工测试、测试效率低、测试结果不可靠的问题。

本申请实施例提供一种激光器整机用光栅测试系统，包括：

测试平台，所述测试平台上设有水冷板；

激光器，包括安装于所述测试平台上的光学模块，所述光学模块通过光纤连接待测试光栅，所述待测试光栅位于水冷板上；

安装于所述测试平台上的功率测试计，所述功率测试计用于测试所述光学模块的激光输出功率；

安装于所述测试平台上的温度测试组件，包括驱动部和温度计，所述驱动部与所述温度计连接，所述温度计用于测试所述待测试光栅的光栅温度；

控制器，所述光学模块、所述功率测试计和所述温度测试组件分别与所述控制器相连；

其中，所述控制器用于：

控制所述光学模块按照不同的设定功率加载出光；

控制所述驱动部驱动所述温度计移动至所述待测试光栅的位置处；

控制所述功率测试计和所述温度测试组件，检测激光器的设定功率对应的激光输出功率和光栅温度；

接收所述激光输出功率和光栅温度；

根据所述设定功率和所述激光输出功率计算激光功率斜效率；

根据所述光栅温度和所述激光功率斜效率，判断所述待测试光栅是否合格，并输出测试结果。

本申请实施例提供的一种激光器整机用光栅测试系统，因采用在测试平台上安装功率测试计和温度测试组件，自动测试并记录待测试光栅的激光输出功率和光栅温度，控制器根据激光输出功率计算激光功率斜效率，根据光栅温度和激光功率斜效率，判断待测试光栅是否合格，并输出测试结果，所以克服了现有的光栅测试采用人工测试、测试效率低、测试结果不可靠的问题，进而达到了提高光栅测试效率、提高测试结果准确性和自动化程度高的技术效果。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对本领域技术人员来说，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

为了更完整地理解本申请及其有益效果，下面将结合附图来进行说明。其中，在下面的描述中相同的附图标号表示相同部分。

图1为本申请实施例提供的光路示意图。