[发明专利]一种激光器整机用光栅测试系统

权利要求书

1.一种激光器整机用光栅测试系统，其特征在于，包括：

测试平台，所述测试平台上设有水冷板；

激光器，包括安装于所述测试平台上的光学模块、供电模块和若干继电器，所述供电模块通过若干所述继电器与所述光学模块连接，所述光学模块通过光纤连接待测试光栅，所述待测试光栅位于水冷板上；

安装于所述测试平台上的功率测试计，所述功率测试计用于测试所述光学模块的激光输出功率；

安装于所述测试平台上的温度测试组件，包括驱动部、温度计、相机、标识部和光源，所述相机位于所述水冷板的上方，所述光源照射所述水冷板，所述标识部设置于所述水冷板上，所述标识部位于所述待测试光栅上方，所述相机用于采集所述标识部照片，控制器用于根据所述照片计算出所述待测试光栅所在位置的坐标，所述驱动部与所述温度计连接，所述温度计用于测试所述待测试光栅的光栅温度；

控制器，所述供电模块、所述光学模块、所述功率测试计和所述温度测试组件分别与所述控制器相连；

其中，所述控制器用于：

设置所述激光器不同的设定功率；

控制所述供电模块根据设定功率控制若干所述继电器动作，以控制所述光学模块按照设定功率加载出光；

根据所述坐标控制所述驱动部驱动所述温度计移动至所述待测试光栅的位置处；

控制所述功率测试计和所述温度测试组件，检测激光器的设定功率对应的激光输出功率和光栅温度；

接收所述激光输出功率和光栅温度；

根据所述设定功率和所述激光输出功率计算激光功率斜效率，其中，激光功率斜效率K的计算公式如下：

；

其中，P_0i为第i个设定功率，P_1j为第j个实际接收激光输出功率，i、j为1，2，…，n，n为拟合数据组数；

根据所述光栅温度和所述激光功率斜效率，判断所述待测试光栅是否合格，并输出测试结果。

2.根据权利要求1所述的一种激光器整机用光栅测试系统，其特征在于，所述控制器用于根据所述光栅温度计算温升值，根据所述温升值判断所述待测试光栅是否合格，并输出测试结果。

3.根据权利要求1所述的一种激光器整机用光栅测试系统，其特征在于，所述标识部包括面板和支撑部，所述支撑部与所述面板的端部连接，所述支撑部位于所述测试平台上，所述面板上设有检测区和标识区，所述标识区位于所述检测区的一侧，所述标识区内设有非对称图形，所述待测试光栅位于所述检测区的下方。

4.根据权利要求3所述的一种激光器整机用光栅测试系统，其特征在于，所述控制器包括：

坐标换算模块，用于对所述照片采集的所述标识部的照片进行坐标换算，分别获得所述待测试光栅的光栅入口、光栅栅区和光栅出口的坐标；

所述驱动部与所述坐标换算模块连接，根据所述坐标驱动所述温度计移动至所述待测试光栅的光栅入口、光栅栅区和光栅出口处，分别检测所述待测试光栅的光栅入口、光栅栅区和光栅出口的光栅温度，分别为第一光栅温度、第二光栅温度和第三光栅温度；

所述控制器用于：

预设第一温度阈值，不同设定功率对应不同所述第一温度阈值；

将所述第一光栅温度、第二光栅温度和第三光栅温度分别与所述第一温度阈值做比较运算；

当所述第一光栅温度、第二光栅温度和第三光栅温度中任一温度大于所述第一温度阈值，所述测试结果为所述待测试光栅不合格。

5.根据权利要求4所述的一种激光器整机用光栅测试系统，其特征在于，

所述控制器用于：

预设温升阈值；

将不同设定功率对应的所述第一光栅温度、第二光栅温度和第三光栅温度进行运算，对应得到第一温升值、第二温升值和第三温升值，取所述第一温升值、第二温升值和第三温升值中的最大值与所述温升阈值做比较运算，若大于所述温升阈值，则所述测试结果为所述待测试光栅不合格。