[发明专利]梯形校正方法、装置、投影仪及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种梯形校正方法，其特征在于，应用于投影仪，所述投影仪包括惯性传感器，所述方法包括：

获取预先标定的标定参数，所述标定参数中包括所述投影仪的标定姿态；

当通过所述惯性传感器监测到所述投影仪的姿态发生变化时，计算第一投影平面和第二投影平面之间的平面倾斜角，其中，所述第一投影平面为所述投影仪的姿态发生变化之后的投影平面，所述第二投影平面为所述投影仪的姿态发生变化之前的投影平面；

根据所述平面倾斜角确定所述投影仪的姿态倾斜角；

根据所述投影仪的所述标定姿态和所述姿态倾斜角进行梯形校正。

2.如权利要求1所述的梯形校正方法，其特征在于，所述计算第一投影平面和第二投影平面之间的平面倾斜角，包括：

计算所述第一投影平面的第一平面方程；

获取所述第二投影平面的第二平面方程；

根据所述第一平面方程和所述第二平面方程计算所述平面倾斜角。

3.如权利要求2所述的梯形校正方法，其特征在于，所述投影仪还包括测距传感器，所述预先标定的标定参数中包括第一坐标系下所述测距传感器的出光方向向量，所述第一坐标系为所述投影仪所在的坐标系；

所述计算所述第一投影平面的第一平面方程，包括：

获取所述第一坐标系中的第一重力向量；

通过所述测距传感器获取所述第一投影平面上的两个预设标定点各自与所述投影仪之间的测距距离，其中，所述预设标定点由所述出光方向向量确定；

根据所述出光方向向量和所述测距距离计算所述两个预设标定点在所述第一坐标系中各自的投影坐标；

根据所述第一重力向量和所述两个预设标定点在所述第一坐标系中各自的投影坐标计算所述第一平面方程。

4.如权利要求3所述的梯形校正方法，其特征在于，所述预先标定的标定参数中包括世界坐标系和所述第一坐标系之间的变换矩阵；

所述获取所述第一坐标系中的第一重力向量，包括：

通过所述惯性传感器获取所述世界坐标系中的第二重力向量；

根据所述变换矩阵将所述第二重力向量转换为所述第一坐标系中的第一重力向量。

5.如权利要求3所述的梯形校正方法，其特征在于，所述根据所述第一重力向量和所述两个预设标定点在所述第一坐标系中各自的投影坐标计算所述第一平面方程，包括：

根据所述两个预设标定点在所述第一坐标系中各自的投影坐标计算第一平面向量；

根据所述第一重力向量计算第二平面向量；

根据所述第一平面向量和所述第二平面向量计算所述第一平面方程。

6.如权利要求2所述的梯形校正方法，其特征在于，所述根据所述第一平面方程和所述第二平面方程计算所述平面倾斜角，包括：

确定所述第一平面方程的第一法向量；

确定所述第二平面方程的第二法向量；

计算所述第一法向量和所述第二法向量之间的向量夹角；

将所述向量夹角确定为所述平面倾斜角。

7.如权利要求1所述的梯形校正方法，其特征在于，所述根据所述投影仪的所述标定姿态和所述姿态倾斜角进行梯形校正，包括：

根据所述投影仪的所述标定姿态和所述姿态倾斜角计算所述投影仪的当前姿态；

根据所述投影的当前姿态和投射比计算投影区域的顶点坐标；

根据所述顶点坐标进行梯形校正。