[发明专利]基于FPGA平台的多路并行DDS双向线性扫频方法、系统及介质有效

专利信息
申请号: 202111229230.1 申请日: 2021-10-21
公开(公告)号: CN114115436B 公开(公告)日: 2023-06-13
发明(设计)人: 胡旭;杜涛涛;王萌 申请(专利权)人: 湖南艾科诺维科技有限公司
主分类号: G06F1/02 分类号: G06F1/02
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 赵朕毅
地址: 410000 湖南省长沙市开福区伍家岭*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 基于 fpga 平台 并行 dds 双向 线性 方法 系统 介质
【权利要求书】:

1.一种基于FPGA平台的多路并行DDS双向线性扫频方法,其特征在于,第一单向扫频模块的控制步骤包括:

获取第一控制信息,根据所述第一控制信息计算第一批并行的DDS中每个DDS的初相位以及每个时间点各DDS的相位累进值,所述相位累进值为后一个时间点的相位减前一个时间点的相位的值;

根据所述第一控制信息计算正方向扫频最后一个数据点对应的相位,并作为负方向扫频初始相位,将负方向扫频初始相位发送给第二单向扫频模块,向第一批并行的DDS中每个DDS输入对应的初相位,在每个时间点,向第一批并行的DDS中每个DDS输入对应的相位累进值,等待并获取对应的输出数据作为正方向扫频结果。

2.根据权利要求1所述的基于FPGA平台的多路并行DDS双向线性扫频方法,其特征在于,所述第一控制信息包括预设的正方向扫频初始相位,带宽,脉宽,中心频率和FPGA工作时钟频率,根据所述第一控制信息计算第一批并行的DDS中每个DDS的初相位的步骤具体包括:

计算中心频率和带宽的差得到扫频开始频率,计算带宽和脉宽的比值得到扫频斜率,计算FPGA工作时钟频率的倒数得到FPGA工作时钟周期;

根据正方向扫频初始相位、扫频开始频率、扫频斜率、FPGA工作时钟周期计算第一批并行的DDS中每个DDS的初相位,函数表达式如下:

αM(0)=F0*((M-1)/L)*Δt+1/2*K*(((M-1)/L)*Δt)2+a0

上式中,F0为扫频开始频率,K为扫频斜率,Δt为FPGA的工作时钟周期,M为当前DDS的序号,L为DDS的数量,a0为初始相位。

3.根据权利要求2所述的基于FPGA平台的多路并行DDS双向线性扫频方法,其特征在于,根据所述第一控制信息计算每个时间点各DDS的相位累进值的步骤具体包括:

计算脉宽和FPGA工作时钟频率的乘积得到数据长度,根据所述数据长度确定时间点的数量;

根据正方向扫频初始相位、扫频开始频率、扫频斜率、FPGA工作时钟周期计算第一批并行的DDS中每个DDS的每个时间点对应的相位;

对于每个DDS,分别将后一时间点的相位减去前一时间点的相位,得到该DDS每个时间点的相位累进值。

4.根据权利要求3所述的基于FPGA平台的多路并行DDS双向线性扫频方法,其特征在于,每个时间点各DDS的相位累进值的函数表达式如下:

AM(n+1)=F0*(1+(M-1)/L)*Δt+1/2*K*Δt2*(2n+1+2(M-1)/L)

上式中,F0为扫频开始频率,K为扫频斜率,Δt为FPGA的工作时钟周期,n为上一时间点的序号,M为当前DDS的序号,L为DDS的数量。

5.根据权利要求1所述的基于FPGA平台的多路并行DDS双向线性扫频方法,其特征在于,将负方向扫频初始相位发送给第二单向扫频模块具体为:在最后一个时间点,将负方向扫频初始相位发送给第二单向扫频模块。

6.根据权利要求1所述的基于FPGA平台的多路并行DDS双向线性扫频方法,其特征在于,正方向扫频最后一个数据点对应的相位为第一批并行的DDS中排名最后的DDS在最后一个时间点的相位。

7.根据权利要求1所述的基于FPGA平台的多路并行DDS双向线性扫频方法,其特征在于,第二单向扫频模块的控制步骤包括:

获取负方向扫频初始相位,并根据负方向扫频初始相位配置第二控制信息,根据所述第二控制信息计算第二批并行的DDS中每个DDS的初相位以及每个时间点各DDS的相位累进值,向第二批并行的DDS中每个DDS输入对应的初相位,在每个时间点,向第二批并行的DDS中每个DDS输入对应的相位累进值,等待并获取对应的输出数据作为负方向扫频结果。

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