[发明专利]一种基于忆阻交叉阵列的长短时记忆自主转换电路在审

专利信息
申请号: 202111213175.7 申请日: 2021-10-19
公开(公告)号: CN113988278A 公开(公告)日: 2022-01-28
发明(设计)人: 王小平;潘朝勋 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G06N3/063 分类号: G06N3/063;G11C13/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 祝丹晴
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 交叉 阵列 短时记忆 自主 转换 电路
【说明书】:

发明公开了一种基于忆阻交叉阵列的长短时记忆自主转换电路,属于电路设计领域。包括短时记忆网络、长时记忆网络、长期刺激判定电路和记忆转换电路;所述短时记忆网络包括第一忆阻交叉阵列,所述长时记忆网络包括第二忆阻交叉阵列。利用忆阻交叉阵列的并行处理能力极大地提高了网络的计算速度,而具有记忆功能的忆阻则为长短时记忆转换提供了良好的实现方案;忆阻交叉阵列阻值可编程的特点丰富了网络的应用场景,使得长短时记忆转换成为可能的同时,还可以利用其扩展成不同的神经网络结构,从而打破传统网络功能的单一性;同时依靠长期刺激判定电路实现对外界刺激是否属于长期刺激的判定,并通过记忆转换电路解决短时记忆向长时记忆的转换问题。

技术领域

本发明属于电路设计领域,更具体地,涉及一种基于忆阻交叉阵列的长短时记忆自主转换电路。

背景技术

1966年,Milner通过对大脑颞叶手术后健忘症的研究得出一个结论:长时记忆与短时记忆在生物大脑中是分开存储的。1968年,Atkinson和Shiffrin提出记忆的三阶段认知模型,认为只有被操作加工过的短时记忆才能被巩固到长时记忆。长短时记忆转换的目的是在外界长期刺激作用下,将短时记忆编码为长时记忆来进行存储,并保护原有记忆不受破坏。长短时记忆转换的难点是其记忆信息的读写。忆阻交叉阵列是一个解决记忆信息读写很好的方法。忆阻是一种具有记忆功能的非线性双端纳米器件,通过控制施加在器件两端的电流和电压来改变忆阻阻值,且能够在断电后保持阻值不变,将记忆信息读写问题转换为读写电压的控制。当忆阻两端电压超过其阈值时,忆阻阻值从初始状态开始变化,直到达到稳定状态,稳定状态即为记忆信息。神经网络通常使用的是电阻作为权重,一旦权重确定下来,这个网络的功能就无法再改变。作为新型的具有很多优良性能的纳米级器件的忆阻器,自1971年被预言存在、2008年被首次成功制备出物理实物以来,开始受到科研工作者的广泛关注,忆阻器的“阻变”性及类似“开关”的特性使得其能够取代传统的晶体管器件,并有望解决其技术瓶颈的难题。

在神经网络技术的发展过程中,硬件实现技术的研究远滞后于应用研究,以至于当前绝大部分应用不得不采用串行计算机进行软件模拟,几十年来,应用人工神经网络的人们尚未有机会真正体会到基于神经网络并行结构的种种优越性。研究如何利用忆阻实现长短时记忆转换,从而使神经网络的权重类似生物突触可以随着外界刺激进行改变,具有重要的意义。

发明内容

针对相关技术的缺陷,本发明基于忆阻交叉阵列的并行计算特性,同时依据生物长短时记忆分区存储的事实,提供了一种基于忆阻交叉阵列的长短时记忆自主转换电路,旨在解决现有技术未能采用硬件实现长短时记忆转换、不能充分发挥神经网络并行处理能力的问题。

为实现上述目的,本发明提供了一种基于忆阻交叉阵列的长短时记忆自主转换电路,包括短时记忆网络、长时记忆网络、长期刺激判定电路和记忆转换电路;所述短时记忆网络包括第一忆阻交叉阵列,所述长时记忆网络包括第二忆阻交叉阵列;

所述长期刺激判定电路包括n个差分运算模块、n个绝对值模块、求和比较模块以及控制模块,其中n为大于等于3的整数;所述n个差分运算模块的输出端与所述n个绝对值模块的输入端对应连接,所述n个绝对值模块的输出端均连接到所述求和比较模块的输入端,所述求和比较模块的输出端与所述控制模块的输入端连接;所述控制模块的输出电压决定第一忆阻交叉阵列和第二忆阻交叉阵列的行和列是否选通;

所述记忆转换电路包括依次连接的读电路模块、长短时记忆模块和写电路模块;所述读电路模块从所述第一忆阻交叉阵列读取短时记忆并转化为短时记忆电压,所述长短时记忆模块将短时记忆电压转化为长时记忆电压,所述写电路模块将长时记忆电压写入所述第二忆阻交叉阵列中。

进一步地,每个差分运算模块的第一输入端连接激励函数,其第二输入端连接比较输入电压,所述激励函数输出值与短时记忆网络的联想结果对应,所述比较输入电压与外界刺激对应;

n个差分运算模块计算n个激励函数输出值和n个比较输入电压的各点误差值;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111213175.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top