[发明专利]一种自晶圆背面切割晶圆的方法及系统在审

专利信息
申请号: 202111211917.2 申请日: 2021-10-18
公开(公告)号: CN113948383A 公开(公告)日: 2022-01-18
发明(设计)人: 张中;潘明东;陈益新 申请(专利权)人: 江苏芯德半导体科技有限公司
主分类号: H01L21/304 分类号: H01L21/304;H01L21/67;B24B37/00
代理公司: 无锡华越知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32571 代理人: 苏霞
地址: 210000 江苏省南*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 背面 切割 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种自晶圆背面切割晶圆的方法,其特征在于,该方法具体包括以下步骤:

(1)将晶圆研磨减薄后,将晶圆正面朝上置于贴片平台的固定环中,在晶圆正面覆盖膜,以完成贴片;

(2)取下所述步骤(1)中贴片后的晶圆,去除多余的膜后,将晶圆正面朝下置于切割平台上;

(3)所述晶圆背面上方设有IR相机,所述IR相机连接控制器,所述IR相机对准晶圆背面拍摄图像,并将图像发送给控制器,所述控制器解析所述图像获得晶圆背面的图形,所述图形即对应晶圆正面的切割道;

(4)根据步骤(3)所得晶圆背面的图形进行切割晶圆。

2.根据权利要求1所述的一种自晶圆背面切割晶圆的方法,其特征在于,所述步骤(1)中对晶圆贴片后,用滚轮匀速滚过。

3.根据权利要求1所述的一种自晶圆背面切割晶圆的方法,其特征在于,所述膜根据晶圆厚度和晶圆正面金属线路厚度确定。

4.根据权利要求1至3任一项所述的一种自晶圆背面切割晶圆的方法,其特征在于,所述步骤(3)中IR相机成像前需调整灯光强度。

5.根据权利要求4所述的一种自晶圆背面切割晶圆的方法,其特征在于,所述步骤(4)中切割晶圆时根据切割道宽度确定合适的刀片。

6.根据权利要求1所述的一种自晶圆背面切割晶圆的方法,其特征在于,所述IR相机采用InGaAs红外相机。

7.一种实施权利要求1所述方法的系统,其特征在于,该系统包括:贴片平台、切割平台、IR相机以及控制器;

所述贴片平台用于承载晶圆,以完成晶圆的贴片;

所述切割平台用于承载贴片后的晶圆,所述晶圆正面朝下放置于切割平台上;

所述IR相机设于所述切割平台的上方,所述IR相机连接控制器,所述控制器连接切割平台;

所述IR相机对准晶圆背面拍摄图像,并将图像发送给控制器,所述控制器解析所述图像获得晶圆背面的图形,所述图形即对应晶圆正面的切割道;

所述控制器发送图像给切割平台,所述切割平台根据图像中的图形预设切割位置,并根据预设的切割位置切割晶圆。

8.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述切割平台包括校验模块,所述校验模块调整晶圆位置使预设的切割位置与晶圆位置保持一致,所述校验模块校验之后,切割平台再根据预设的切割位置切割晶圆。

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