[发明专利]一种闪存页失效特性的识别方法和识别系统

说明书

本发明公开了一种闪存页失效特性的识别方法和识别系统，涉及闪存失效块、失效页检测技术领域，主要解决现有的闪存失效页进行识别时，没有考虑到不同块中相同页偏移的页失效时可能存在的关联性，从而导致数据出现丢失或者损坏的问题；包括扫描测试模块、统计对比模块、判断模块、标记模块，通过对闪存进行扫描测试，将闪存中每一个块中的每一个页出错bit数记录下来，并标记为数组，对数组进行统计，得出相同页偏移上出现错误bit数的众数，统计出错bit数大于众数与稳定系数之和的次数，记为不稳定页出现的次数，不稳定页次数大于块相关数时，则认为该页偏移存在不稳定性，并标记为坏页，从而提升坏页识别准确率，保证闪存的数据读写安全。

技术领域

本发明涉及闪存失效块、失效页检测技术领域，具体是一种闪存页失效特性的识别方法和识别系统。

背景技术

闪存卡(Flash Card)是利用闪存(Flash Memory)技术达到存储电子信息的存储器，一般应用在数码相机，掌上电脑，MP3等小型数码产品中作为存储介质，所以样子小巧，有如一张卡片，所以称之为闪存卡。在SD卡和闪存U盘、SSD等存储设备的存储介质都是闪存(NAND FLASH)。由于闪存会存在坏块，坏页等失效特性，所以在做成产品前，都需要对闪存进行测试，保证每一个使用到的存储单元都是可靠的。

目前对闪存进行测试的方法都是针对块为单位，对闪存的所有块进行擦除、写、读测试。将对应的失效块、页进行标记为坏块、坏页。被标记的坏块、坏页在闪存后续使用时不会写入有效数据，保证数据存储的可靠性。

在一般的闪存扫描测试中，正常稳定的情况下，每一个块中对应的页在多次扫描的结果应该是稳定，即每次出错的bit数应该是稳定的，不会出现很大的偏差，但可能会出现闪存中某一个固定页偏移失效的情况，此时保存在页偏移的数据出错bit数会出现较大的变化，有可能出现超过ECC交错码纠错能力导致数据出错的情况。此种情况下，由于出错的情况是随机出现在同一个页偏移的，所以正常的闪存扫描测试无法把该种闪存特性识别出来。最终导致闪存产品保存的数据出错。

发明内容

本发明的目的在于提供一种闪存页失效特性的识别方法和识别系统，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种闪存页失效特性的识别方法，所述方法包括：

S1、对闪存进行扫描测试，记录每块所述闪存中的所有出错bit数，并标记为数组A；

S2、对所述数组A进行统计，得出在每一个相同页偏移上出现错误bit数的众数Mode；

S3、统计每一相同页偏移中，出错bit数超过所述众数Mode与稳定系数之和的次数，得到不稳定页出现的次数；

S4、判断所述不稳定页出现次数是否大于块相关数；若否，则认为所述页偏移稳定，返回步骤S1；若是，则所述页偏移存在不稳定的特性，并在所有块中将所述页标记为坏页。

作为本发明进一步的方案：所述步骤S1包括步骤：

S11、对所述闪存进行数据写入和数据读取的扫描测试；

S12、根据所述闪存中的每一个块和每一个页中写入数据和读出数据，获取每一个块中对应每一个页出错的情况；

S13、将每一个页中出错bit数记录下来，生成所述数组A。

作为本发明再进一步的方案：所述步骤S13包括步骤：

判断每一页总出错bit数是否超过存储控制器ECC纠错码的保护能力，若否，继续扫描；若是，则将该页判断为坏页；

判断每一个块中的每一页是否全为坏页；若否，则继续扫描；若是，则将该块判断为坏块。