[发明专利]一种闪存页失效特性的识别方法和识别系统

权利要求书

1.一种闪存页失效特性的识别方法，其特征在于，所述方法包括：

S1、对闪存进行扫描测试，记录每块所述闪存中的所有出错bit数，并标记为数组A；

S2、对所述数组A进行统计，得出在每一个相同页偏移上出现错误bit数的众数Mode；

S3、统计每一相同页偏移中，出错bit数超过所述众数Mode与稳定系数之和的次数，得到不稳定页出现的次数；

S4、判断所述不稳定页出现次数是否大于块相关数；若否，则认为所述页偏移稳定，返回步骤S1；若是，则所述页偏移存在不稳定的特性，并在所有块中将所述页标记为坏页。

2.根据权利要求1所述的闪存页失效特性的识别方法，其特征在于，所述步骤S1包括步骤：

S11、对所述闪存进行数据写入和数据读取的扫描测试；

S12、根据所述闪存中的每一个块和每一个页中写入数据和读出数据，获取每一个块中对应每一个页出错的情况；

S13、将每一个页中出错bit数记录下来，生成所述数组A。

3.根据权利要求2所述的闪存页失效特性的识别方法，其特征在于，所述步骤S13包括步骤：

判断每一页总出错bit数是否超过存储控制器ECC纠错码的保护能力，若否，继续扫描；若是，则将该页判断为坏页；

判断每一个块中的每一页是否全为坏页；若否，则继续扫描；若是，则将该块判断为坏块。

4.根据权利要求1所述的一种闪存页失效特性的识别方法，其特征在于，所述稳定系数与闪存稳定性相关，所述稳定系数通常设置为10，所述块相关数与闪存包含总块数相关，所述块相关数通常为总块数的5％。

5.一种闪存页失效特性的识别系统，其特征在于，所述识别系统包括：

扫描测试模块，用于对闪存进行扫描测试，记录每块所述闪存中的所有出错bit数，并标记为数组A；

统计对比模块，用于对所述数组A进行统计，得出在每一个相同页偏移上出现错误bit数的众数Mode，统计每一个相同页偏移中，出错bit数超过所述众数Mode与稳定系数之和的次数，得到不稳定页出现的次数；

判断模块，用于判断所述不稳定页出现次数是否大于块相关数；并在所述不稳定页出现次数大于块相关数时判定所述页偏移存在不稳定的特性；

标记模块，用于在所述页偏移存在不稳定的特性时在所述块中将所述页标记为坏页。

6.根据权利要求5所述的闪存页失效特性的识别系统，其特征在于，所述扫描测试模块包括：

测试单元，用于对所述闪存进行数据写入和数据读取的扫描测试；

扫描单元，用于根据所述闪存中的每一个块和每一个页中写入数据和读出数据，获取每一个块中对应每一个页出错的情况；

处理单元，用于将每一个页中出错bit数记录下来，生成所述数组A。

7.根据权利要求6所述的闪存页失效特性的识别系统，其特征在于，所述处理单元还用于判断每一页总出错bit数是否超过存储控制器ECC纠错码的保护能力，并在超过时将该页判断为坏页；所述处理单元还用于判断每一个块中的每一页是否全为坏页，并在超过时将该块判断为坏块。

8.根据权利要求5所述的一种闪存页失效特性的识别系统，其特征在于，所述稳定系数与闪存稳定性相关，所述稳定系数通常设置为10，所述块相关数与闪存包含总块数相关，所述块相关数通常为总块数的5％。

9.一种闪存颗粒，其特征在于，包含权利要求5-8任一所述的闪存页失效特性的识别系统。