[发明专利]数控机床教学课程的考评方法、装置、存储介质及处理器

说明书

本申请公开了一种数控机床教学课程的考评方法、装置、存储介质及处理器。该方法包括：对教学课程考试中的目标数据的属性进行信息的配置，得到配置后的目标数据的属性信息，其中，配置后的目标数据的属性信息至少包括：教学课程考试的评分数据的属性信息、教学课程考试的统计数据的属性信息；通过评分数据的属性信息确定教学课程考试的学生成绩；对学生成绩统计分析，得到分析后的数据，其中，分析后的数据至少包括每个学生的失分统计；通过分析后的数据对教学课程进行考评。通过本申请，解决了相关技术中由于难以对失分类型进行细致分析，导致教学质量较低的问题。

技术领域

本申请涉及教学课程处理技术领域，具体而言，涉及一种数控机床教学课程的考评方法、装置、存储介质及处理器。

背景技术

现有技术对学生在实操课程环境下没有进行失分类型细致的分析，从而导致教学效果反馈不及时，教师无法及时调整教学，实现持续改进。

针对相关技术中由于难以对失分类型进行细致分析，导致教学质量较低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种数控机床教学课程的考评方法、装置、存储介质及处理器，以解决相关技术中由于难以对失分类型进行细致分析，导致教学质量较低的问题。

为了实现上述目的，根据本申请的一个方面，提供了一种数控机床教学课程的考评方法。该方法包括：对教学课程考试中的目标数据的属性进行信息的配置，得到配置后的目标数据的属性信息，其中，配置后的目标数据的属性信息至少包括：教学课程考试的评分数据的属性信息、教学课程考试的统计数据的属性信息；通过评分数据的属性信息确定教学课程考试的学生成绩；对学生成绩统计分析，得到分析后的数据，其中，分析后的数据至少包括每个学生的失分统计；通过分析后的数据对教学课程进行考评。

进一步地，评分数据的属性信息至少包括：考试的题目类型、考试的考核内容、考试的预设规范值、考试成绩、考试成绩的上偏差、考试成绩的下偏差、题目的失分类型。

进一步地，对教学课程考试中的目标数据的属性进行信息的配置包括：将评分数据的属性按照第一预设格式进行信息的配置，得到配置后的评分数据的属性信息；将统计数据的属性按照第二预设格式进行信息的配置，得到配置后的统计数据的属性信息。

进一步地，通过评分数据的属性信息确定教学课程考试的学生成绩包括：根据评分数据的属性信息确定评分表的模板；通过将数控机床的测量结果导入至评分表的模板中，进而确定教学课程考试的学生成绩。

进一步地，对学生成绩统计分析，得到分析后的数据包括：通过目标统计算法对学生成绩统计分析，得到分析后的数据，并将分析后的数据进行页面显示，其中，页面显示的内容至少包括：每个学生对应的题目类型的分数、每个学生对应的题目类型的分数与班级题目类型的目标分数的比较结果、每个学生对应的题目类型的失分统计、班级题目类型的失分统计。

进一步地，通过分析后的数据对教学课程进行考评包括：从失分统计中获取失分数量，其中，失分数量包括：每个学生对应的题目类型的失分数量以及班级题目类型的失分数量；通过失分数量对教学课程进行考评。

进一步地，统计数据的属性信息至少包括：期末统计分数、每个学生的分数统计、每个学生的失分统计、每个学生的成绩排名，其中，期末统计分数至少包括：统计数据需要的预设时间、评分表的模板名称、成绩统计、学生的课程学分、学生的课程绩点、以及学生的学分绩点。