[发明专利]一种芯片寄存器提取及测试方法

说明书

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片寄存器提取及测试方法，所述方法包括使用perl编写脚本，调用ActivePerl提供的OLE接口，根据寄存器表格使用正则表达式依次去匹配对应的关键字，从而提取一个寄存器的关键信息；再根据提取的寄存器的关键信息生成仿真平台可以直接运行的测试用例。本发明通过脚本提取寄存器内容，可以对寄存器功能进行全面测试，提高了芯片寄存器验证的效率。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片寄存器提取及测试方法。

背景技术

在芯片设计中，寄存器承担着软硬件交互的重要作用，主要体现在：

(1)芯片复位后，保存触发器的默认值，软件读取后可获取硬件的初始状态；

(2)解除复位后，保存软件下发的配置，用于改变硬件的工作模式；

(3)提供debug信息，如统计，fifo状态，fsm状态，err监控等；

(4)提供中断详细信息，便于cpu执行不同的中断处理程序；

(5)提供软复位接口，将芯片从异常中跳出来；

(6)保存软件配置表项，将软件定义的功能以硬件规则实现，降低cpu的负担，提高处理性能；

由上述分析可见，确保寄存器能被正确访问是很重要的。在芯片的设计比较复杂时，往往会有大量的配置寄存器和debu g寄存器，为了确保寄存器能够正常工作，需要验证工程师根据寄存器的定义对其进行读写测试，考虑到项目复杂度，对寄存器进行测试是一项重要而又繁琐的任务。传统做法如下：

1)根据寄存器文档手动提取寄存器信息，如地址、位宽等信息；

2)根据验证平台编写测试用例，测试复位值并设计测试方法；

3)对寄存器未知地址或ram涉及到拼接的部分进行特定测试；

4)对统计或监控寄存器通过构造激励进行测试；

这些做法的好处是比较精确的对特定寄存器进行测试，但整体效率不高，也会很容易遗漏任务的交叉部分。在寄存器的规格有调整时，需要花时间去仔细校对修改信息。另外，需要每个验证人员都抽出一部分精力来测试寄存器的读写并跟踪后续改动，效率极差。

发明内容

本发明提供了一种芯片寄存器提取及测试方法，提高了芯片寄存器验证的效率。

为了实现本发明的目的，一种芯片寄存器提取及测试方法，包括如下步骤：

1)使用perl编写脚本，调用ActivePerl提供的OLE接口，根据寄存器表格的文件名、sheet名，row/columu数量，使用正则表达式依次去匹配对应的关键字，从而提取一个寄存器的关键信息；

2)根据提取的寄存器的关键信息生成仿真平台可以直接运行的测试用例；

3)测试用例包括：

(1)检查寄存器的复位值；

(2)测试寄存器的bit复位功能；

(3)测试寄存器的bit置位功能；

(4)测试寄存器是否存在bit粘连；

(5)对寄存器的未知地址进行读写，模拟CPU异常访问；

(6)对寄存器ram的复位、置位和读写随机值进行测试；

(7)对寄存器多次读写访问，检查复位值。

作为本发明的优化方案，寄存器的关键信息包括名字、地址、位宽、起始位、复位值和访问属性。