[发明专利]一种芯片寄存器提取及测试方法

权利要求书

1.一种芯片寄存器提取及测试方法，其特征在于：包括如下步骤：

1)使用perl编写脚本，调用ActivePerl提供的OLE接口，根据寄存器表格的文件名、sheet名，row/columu数量，使用正则表达式依次去匹配对应的关键字，从而提取一个寄存器的关键信息；

2)根据提取的寄存器的关键信息生成仿真平台可以直接运行的测试用例；

3)测试用例包括：

(1)检查寄存器的复位值；

(2)测试寄存器的bit复位功能；

(3)测试寄存器的bit置位功能；

(4)测试寄存器是否存在bit粘连；

(5)对寄存器的未知地址进行读写，模拟CPU异常访问；

(6)对寄存器ram的复位、置位和读写随机值进行测试；

(7)对寄存器多次读写访问，检查复位值。

2.根据权利要求1所述的一种芯片寄存器提取及测试方法，其特征在于：寄存器的关键信息包括名字、地址、位宽、起始位、复位值和访问属性。

3.根据权利要求2所述的一种芯片寄存器提取及测试方法，其特征在于：测试用例还包括对寄存器ram的地址边界进行测试。

4.根据权利要求3所述的一种芯片寄存器提取及测试方法，其特征在于：在生成仿真平台的测试用例中，附加提取的寄存器关键信息中的名字字段。