[发明专利]基于光纤的光学高精度验电装置及系统

说明书

本发明涉及基于光纤的光学高精度验电装置及系统，主要涉及电荷检测领域。本申请提供一种基于光纤的光学高精度验电装置，包括：遮光盒、第一薄膜、第二薄膜、固定部、导电端和光纤；在需要对待测位置的待测电荷量进行检测时，待测电荷通过该导电端进入到该固定部，并进一步的将电荷导入到该第一薄膜和第二薄膜上，第一薄膜和第二薄膜在同性电荷的斥力的作用下发生偏转，使得该第一薄膜和第二薄膜之间的夹角发生改变，从而改变该第一薄膜和第二薄膜之间的光信号的反射情况，进而使得反射回光纤的光信号的强度发生改变，通过对前后光信号的强度的变化进行计算，并根据光信号的强度的变化情况与待测电荷量的对应关系，得到待测电荷量。

技术领域

本发明涉及电荷检测领域，主要涉及一种基于光纤的光学高精度验电装置及系统。

背景技术

验电装置是用于检测电流的电荷量的装置，并且进一步检测电流或者电荷量大小的装置，现有技术一般采用，电流、电压和电阻的对应关系，通过检测电压和电阻，并通过计算，得到待测电流。

现有技术中，一般采用Q＝It，其中Q表示电荷量，I表示电流大小，t表示时间，通过获取电流大小与时间的乘积，表示待测电荷量的大小。

但是，由于现有技术需要获取到的电流受到电压和电阻的影响，并且电压和电阻在检测的过程中受到的影响因素较多，进而使得计算得到的电荷量中存在误差，进而使得最终得到的电荷量不准确。

发明内容

本发明的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种基于光纤的光学高精度验电装置及系统，以解决现有技术中需要获取到的电流受到电压和电阻的影响，并且电压和电阻在检测的过程中受到的影响因素较多，进而使得计算得到的电荷量中存在误差，进而使得最终得到的电荷量不准确的问题。

为实现上述目的，本发明实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本申请提供一种基于光纤的光学高精度验电装置，装置包括：遮光盒、第一薄膜、第二薄膜、固定部、导电端和光纤；第一薄膜、第二薄膜和固定部均设置在遮光盒内部，导电端50的一端垂直贯穿遮光盒10的外壁伸入到遮光盒10内部，另一端设置在遮光盒10的外部，固定部与遮光盒内部的导电端的一端连接，第一薄膜和第二薄膜的一端均与固定部可转动连接，光纤一端设置在遮光盒外部，另一端穿过遮光盒的壁与第二薄膜对应设置，光纤用于将光信号传递到第二薄膜的表面，并接收第二薄膜出射的光信号。

可选地，该装置还包括伸缩部，伸缩部连接在第一薄膜和第二薄膜之间，且伸缩部的材料为电致伸缩材料。

可选地，该第二薄膜靠近第一薄膜的一侧设置有多个锥形凸起。

可选地，该装置还包括石墨烯层，石墨烯层设置在多个锥形凸起表面。

可选地，该第二薄膜靠近第一薄膜的一侧的表面为褶皱状表面。

可选地，该第一薄膜靠近第二薄膜的一侧设置有多个锥形凸起。

可选地，该第一薄膜为导电膜，第二薄膜为贵金属膜。

第二方面，本申请提供的一种基于光纤的光学高精度验电系统，系统包括：光强检测装置、计算机和第一方面任意一项的基于光纤的光学高精度验电装置，光强检测装置与装置的光纤远离第二薄膜的一端连接，用于接收反射光信号的光强，计算机根据反射光信号的光强与待测电荷量的对应关系，得到待测电荷量。

本发明的有益效果是：