[发明专利]基于光纤的光学高精度验电装置及系统

权利要求书

1.一种基于光纤的光学高精度验电装置，其特征在于，所述装置包括：遮光盒、第一薄膜、第二薄膜、固定部、导电端和光纤；所述第一薄膜、所述第二薄膜和所述固定部均设置在所述遮光盒内部，所述导电端的一端垂直贯穿所述遮光盒的外壁伸入到所述遮光盒内部，另一端设置在所述遮光盒的外部，所述固定部与所述遮光盒内部的导电端的一端连接，所述第一薄膜和所述第二薄膜的一端均与所述固定部可转动连接，所述光纤一端设置在所述遮光盒外部，另一端穿过所述遮光盒的壁与所述第二薄膜对应设置，所述光纤用于将光信号传递到所述第二薄膜的内表面，并接收所述第二薄膜出射的光信号，所述第一薄膜和所述第二薄膜为金属薄膜；还包括伸缩部，所述伸缩部连接在所述第一薄膜和所述第二薄膜之间，且所述伸缩部的材料为电致伸缩材料。

2.根据权利要求1所述的基于光纤的光学高精度验电装置，其特征在于，所述第二薄膜靠近所述第一薄膜的一侧设置有多个金属锥形凸起。

3.根据权利要求2所述的基于光纤的光学高精度验电装置，其特征在于，所述装置还包括石墨烯层，所述石墨烯层设置在多个所述锥形凸起表面。

4.根据权利要求3所述的基于光纤的光学高精度验电装置，其特征在于，所述第二薄膜靠近所述第一薄膜的一侧的表面为褶皱状表面。

5.根据权利要求4所述的基于光纤的光学高精度验电装置，其特征在于，所述第一薄膜靠近所述第二薄膜的一侧设置有多个锥形凸起。

6.根据权利要求5所述的基于光纤的光学高精度验电装置，其特征在于，所述第一薄膜为导电膜，所述第二薄膜为贵金属膜。

7.一种基于光纤的光学高精度验电系统，其特征在于，所述系统包括：光强检测装置、计算机和权利要求1-6任意一项所述的基于光纤的光学高精度验电装置，所述光强检测装置与所述装置的光纤远离第二薄膜的一端连接，用于接收反射光信号的光强，所述计算机根据所述反射光信号的光强与待测电荷量的对应关系，得到待测电荷量。