[发明专利]一种基于拉曼光谱检测的隔膜异常点分析方法

权利要求书

1.一种基于拉曼光谱检测的隔膜异常点分析方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、拆解电池获得有异常点的待测电池隔膜；

S2、开启拉曼测试仪并使用标准硅片校准至使用标准；

S3、将待测隔膜的异常点处置于在检测区域内；

S4、使用显微系统找到异常点，调整亮度和焦距并保存异常点位置显微图片；

S5、使用拉曼测试仪对隔膜异常点进行全谱扫描，并在隔膜异常点选取采集位置进行单光谱采集；

S6、根据异常点拉曼位移数据设置光谱成像的中心，光谱成像区域的大小、步长、成像点数后进行拉曼光谱成像采集；

S7、保存测试数据，并进行数据拟合分析。

2.根据权利要求1所述的一种基于拉曼光谱检测的隔膜异常点分析方法，其特征在于，步骤S1还包括将待测隔膜上的电解液烘干。

3.根据权利要求1所述的一种基于拉曼光谱检测的隔膜异常点分析方法，其特征在于，步骤S4中显微系统包括共聚焦显微系统。

4.根据权利要求1所述的一种基于拉曼光谱检测的隔膜异常点分析方法，其特征在于，步骤S5中拉曼测试仪的扫描激光波长包括532nm。

5.根据权利要求1所述的一种基于拉曼光谱检测的隔膜异常点分析方法，其特征在于，步骤S5所述采集位置的数量不少于3处。

6.根据权利要求1所述的一种基于拉曼光谱检测的隔膜异常点分析方法，其特征在于，步骤S6具体为：

S6.1、设置光谱中心要求采集的光谱范围包括隔膜异常点的信号峰位置；

S6.2、在成像区域内均匀设置成像点，另需满足成像步长小于20um，成像点数大于25个。

7.根据权利要求1或6所述的一种基于拉曼光谱检测的隔膜异常点分析方法，其特征在于，所述拉曼光谱成像包括异常点，用于保证成像区域的有效性。

8.根据权利要求1所述的一种基于拉曼光谱检测的隔膜异常点分析方法，其特征在于，步骤S7具体为：

S7.1、观测显微图片中是否有空洞图像；判断是，则隔膜异常点异常原因为隔膜出现空洞；判断否，则进入下一步骤；

S7.2、结合光谱中出现的信号峰、拉曼位移和各类材料的拉曼特征峰对比分析覆盖在异常点上的物质。