[发明专利]一种自由造型模型制作和材质刷帖方法及可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202111148756.7 申请日: 2021-09-29
公开(公告)号: CN113870406A 公开(公告)日: 2021-12-31
发明(设计)人: 丁伟 申请(专利权)人: 洛阳众智软件科技股份有限公司
主分类号: G06T15/04 分类号: G06T15/04;G06T15/00
代理公司: 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司 11471 代理人: 涂凤琴
地址: 471000 河南省洛阳市高新开*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 自由 造型 模型 制作 材质 方法 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种自由造型模型制作和材质刷帖方法,其特征在于,所述方法包括:

采集三维模型数据;

根据所述三维模型数据之间的映射关系和材质纹理信息,构建基础模型;

利用所述基础模型构建目标模型;

更新所述目标模型中的uv数据;

根据所述uv数据确定uv纹理坐标图;

利用所述uv纹理坐标图对所述目标模型进行贴图,得到最终模型。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述三维模型数据包括:

点集数据、线集数据和面集数据。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述更新所述目标模型中的uv数据,包括:

利用预设映射方法将所述目标模型中的uv数据重新映射到uv空间,并将所述目标模型中的数据排布到0-1的区域内,得到更新后的uv数据。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设映射方法包括以下至少一种:

自动映射、平面映射、球面映射和圆柱映射。

5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述uv数据确定uv纹理坐标图,包括:

将所述更新后的uv数据依次进行剪切、缝合和展开,得到uv壳数据;

利用Least Squares Conformal Maps方法计算每个所述uv壳数据的最大包围框的面积,并根据面积的大小对所述uv壳数据进行排序;

将排序后的所述uv壳数据在uv空间中的u坐标轴方向进行排布,如果所述uv壳数据排布的总宽度大于1,则将超出的所述uv壳数据平移到下一行,依次类推,直至将所有的所述uv壳数据排布完成;

利用Least Squares Conformal Maps方法更新每个所述uv壳数据的最大包围框的数据;其中,最大包围框的数据包括:宽度、高度、最大点和最小点;

将所述uv壳数据按照所述最大包围框的数据进行缩放平移处理,并将所述uv壳数据放置于与其对应的最大包围框所在的目标区域,得到所述uv纹理坐标图。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用所述uv纹理坐标图对所述目标模型进行贴图,得到最终模型,包括:

将所述纹理坐标图以图片格式导出,得到中间图片;

根据目标对象将所述中间图片进行修改,得到最终图片;

利用所述最终图片对所述目标模型进行贴图,得到最终模型。

7.一种可读存储介质,其上存储有可执行程序,其特征在于,所述可执行程序被处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述的自由造型模型制作方法的步骤。

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