[发明专利]红外反射传感器识别DUT放平校准的方法及装置

说明书

本发明属于自动化治具领域，公开了红外反射传感器识别DUT放平校准的方法及装置。所述方法为：设定参考电压；在有效距离d处放置DUT，得到红外反射传感器的输出电压；比较电压参考电路的参考电压和红外反射传感器的输出电压，得到电压比较器的输出状态：根据电压比较器输出状态，得到识别状态和指示器状态；根据指示器状态，校正参考电压；根据校正后的参考电压进行DUT放平识别检测。所述装置包括若干个红外反射传感器识别装置，红外反射传感器识别装置包括红外反射传感器、参考电压模块、电压比较模块和结果输出模块。本发明能快速准确的校准参考电压，避免外界因素干扰，提高放平识别精度，减少调试时间和投入成本，占用空间小。

技术领域

本发明属于自动化治具领域，具体涉及红外反射传感器识别DUT放平校准的方法及装置。

背景技术

在自动化治具行业，待测物DUT(DeviceUnderTest，简称DUT)放平的方式通常采用机构进行限位或者导向，这种DUT放平方式精度比较低，并且会出现压坏DUT的情况，而采用传感器进行检测以提高DUT的放平精度，并避免限位或者导向机构压坏DUT的情况。

现有技术中，检测是否放平的传感器通常有霍尔传感器、光纤传感器、红外对射传感器等，其中霍尔传感器只能检测有金属的位置，检测精度不高；光纤传感器虽然灵敏度很高，但是价格昂贵并且非常占用空间；红外反射传感器对反射物的颜色、平整度、以及安装误差等比较敏感，由于外界的自然光或者白炽灯等都含有红外光，对红外反射传感器输出都有很大影响，给设计和调试带来很大挑战；同时，这些传感器的安装数量和安装方式等都会影响到DUT放平识别的效果。

发明内容

本发明旨在针对现有技术中存在的缺陷，提供红外反射传感器识别DUT放平校准的方法及装置，旨在改善DUT放平识别的效果，降低成本，减小占用空间，减少调试时间。

为实现以上技术目的，本发明采用以下技术方案：

红外反射传感器识别DUT放平校准的方法，所述方法包括：

S10：设定电压参考电路的参考电压；

S11：在红外反射传感器的有效距离d处放置DUT，得到红外反射传感器的输出电压；

S12：通过电压比较器比较电压参考电路的参考电压和红外反射传感器的输出电压，得到电压比较器的输出状态；

S13：根据电压比较器的输出状态，得到MCU识别状态和指示器的指示状态；

S14：根据指示器的指示状态，校正并更新电压参考电路的参考电压；

S15：根据步骤S14中校正更新后的参考电压进行DUT放平识别检测。

进一步地，所述S12：通过电压比较器比较电压参考电路的参考电压和红外反射传感器的输出电压，得到电压比较器的输出状态，具体包括：

当红外反射传感器的输出电压高于电压参考电路的参考电压时，电压比较器的输出状态为1；当红外反射传感器的输出电压低于电压参考电路的参考电压时，电压比较器的输出状态为2。

更进一步地，所述S13：根据电压比较器输出状态，得到MCU识别状态和指示器的指示状态，具体包括：

当电压比较器输出状态为1时，MCU的识别状态为：未放平，同时指示器灯亮；

当电压比较器输出状态为2时，MCU的识别状态为：已放平，同时指示器灯灭。

更进一步地，所述S14：根据指示器的指示状态，校正并更新电压参考电路的参考电压，具体包括：

若指示器灯亮，表明设置的参考电压小于红外反射传感器的输出电压，则增大参考电压的值，直至指示器刚好处于由灯亮变为灯灭的临界状态；