[发明专利]红外反射传感器识别DUT放平校准的方法及装置在审

专利信息
申请号: 202111116586.4 申请日: 2021-09-23
公开(公告)号: CN113701714A 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 陈启恩;袁承范;陈焱国;孙德滔;韩雪涛 申请(专利权)人: 深圳市微特精密科技股份有限公司
主分类号: G01C9/00 分类号: G01C9/00;G01C9/06;G01C15/00
代理公司: 北京精金石知识产权代理有限公司 11470 代理人: 杨兰兰
地址: 518000 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 红外 反射 传感器 识别 dut 校准 方法 装置
【权利要求书】:

1.红外反射传感器识别DUT放平校准的方法,其特征在于,所述方法包括:

S10:设定电压参考电路的参考电压;

S11:在红外反射传感器的有效距离d处放置DUT,得到红外反射传感器的输出电压;

S12:通过电压比较器比较电压参考电路的参考电压和红外反射传感器的输出电压,得到电压比较器的输出状态;

S13:根据电压比较器的输出状态,得到MCU识别状态和指示器的指示状态;

S14:根据指示器的指示状态,校正并更新电压参考电路的参考电压;

S15:根据步骤S14中校正更新后的参考电压进行DUT放平识别检测。

2.根据权利要求1所述的红外反射传感器识别DUT放平校准的方法,其特征在于,所述S12:通过电压比较器比较电压参考电路的参考电压和红外反射传感器的输出电压,得到电压比较器的输出状态,具体包括:

当红外反射传感器的输出电压高于电压参考电路的参考电压时,电压比较器的输出状态为1;当红外反射传感器的输出电压低于电压参考电路的参考电压时,电压比较器的输出状态为2。

3.根据权利要求2所述的红外反射传感器识别DUT放平校准的方法,其特征在于,所述S13:根据电压比较器输出状态,得到MCU识别状态和指示器的指示状态,具体包括:

当电压比较器输出状态为1时,MCU的识别状态为:未放平,同时指示器灯亮;

当电压比较器输出状态为2时,MCU的识别状态为:已放平,同时指示器灯灭。

4.根据权利要求3所述的红外反射传感器识别DUT放平校准的方法,其特征在于,所述S14:根据指示器的指示状态,校正并更新电压参考电路的参考电压,具体包括:

若指示器灯亮,表明设置的参考电压小于红外反射传感器的输出电压,则增大参考电压的值,直至指示器刚好处于由灯亮变为灯灭的临界状态;

若指示器灯灭,表明设置的参考电压高于红外反射传感器的输出电压,则减小参考电压的值,直至指示器刚好处于由灯灭即将变为灯亮而又未亮的临界状态;

将所述指示器处于临界状态时对应的参考电压值更新为最终的参考电压。

5.根据权利要求4所述的红外反射传感器识别DUT放平校准的方法,其特征在于,所述S15:根据步骤S14中校正更新后的参考电压进行DUT放平识别检测,具体包括:

在红外反射传感器的有效距离d处放置DUT,根据步骤S14中校正更新后的参考电压进行DUT放平识别检测;

当红外反射传感器的输出电压大于参考电压时,电压比较器输出状态为1,表明DUT板边未在红外反射传感器的有效距离内,红外反射传感器未识别到待测物DUT,MCU的识别状态为:未放平,同时指示器灯亮;

当红外反射传感器的输出电压小于参考电压时,电压比较器输出状态为2,表明DUT板边在红外反射传感器的有效距离内,红外反射传感器识别到待测物DUT,MCU的识别状态为:已放平,同时指示器灯灭。

6.根据权利要求1-5任一项所述的红外反射传感器识别DUT放平校准的方法,其特征在于,步骤S15中采用2个或2个以上的红外反射传感器分别放置在待测物DUT的对角位置进行放平识别检测,所述红外反射传感器与DUT的板边距离为d,d为红外反射传感器的有效识别距离。

7.红外反射传感器识别DUT放平校准的装置,其特征在于,包括若干个红外反射传感器识别装置,所述红外反射传感器识别装置包括:

红外反射传感器:包括红外光发生装置和红外光接收装置,用于发射和接收红外光;

参考电压模块:包括电压参考电路,用于设置参考电压;

电压比较模块:包括电压比较器,用于比较红外反射传感器Q1的输出电压与参考电压,得到电压比较器输出状态;

结果输出模块:包括指示器和MCU,所述指示器用于指示检测结果,所述MCU用于判断并输出DUT放平识别结果;

所述红外反射传感器连接所述电压比较器的正极,所述电压参考电路连接所述电压比较器的负极,所述指示器连接所述电压比较器的输出端,所述MCU的IO接口也连接所述电压比较器的输出端。

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