[发明专利]一种红外反射传感器识别DUT放平校准的方法及装置

说明书

本发明属于自动化治具领域，公开了一种红外反射传感器识别DUT放平校准的方法及装置。所述方法为：在红外反射传感器的有效距离处，分别采集不放置DUT和放置DUT时红外反射传感器的输出电压ADC1、ADC2，将[ADC2，ADC1]作为初始电压识别上下限存储到MCU中；根据[ADC2，ADC1]确定期望的电压识别范围Uo；根据电压识别范围Uo校正并更新MCU中的电压识别上下限为[ADC2‑Uo，ADC2+Uo]；根据[ADC2‑Uo，ADC2+Uo]进行DUT放平识别检测。所述装置包括若干个红外反射传感器识别装置，所述红外反射传感器识别装置包括红外反射传感器、电压采集模块、电压校正模块和DUT放平识别模块。本发明能够改善DUT放平识别效果，降低成本，减小占用空间和调试时间，方便配置识别精度。

技术领域

本发明属于自动化治具领域，具体涉及一种红外反射传感器识别DUT放平软件校准的装置及方法。

背景技术

在自动化治具行业，待测物DUT(Device Under Test，简称DUT)放平的方式通常采用机构进行限位或者导向，这样精度有非常大的局限性，并且会出现压坏DUT的情况，因此，有必要采用传感器进行检测DUT是否放平。

现有技术中，通常进行检测是否放平的传感器有光纤传感器，霍尔传感器，红外对射传感器等，其中，光纤传感器灵敏度很高，但费用极高且非常占用空间；霍尔传感器只能检测有金属的位置，而且检测精度不高。同时，这些传感器的安装方式、数量等等都会影响到DUT放平识别的效果。

发明内容

本发明的目的在于提供一种红外反射传感器识别DUT放平校准的方法及装置，旨在改善DUT放平识别精度，降低成本，减小占用空间，减少调试时间，方便软件配置识别效果。

为实现以上技术目的，本发明采用以下技术方案：

一种红外反射传感器识别DUT放平校准方法，所述方法包括：

在红外反射传感器Q1的有效距离d处，分别采集不放置DUT和放置DUT时红外反射传感器Q1的输出电压ADC1、ADC2，将[ADC2，ADC1]作为初始电压识别上下限存储到MCU中；

根据初始电压识别上下限[ADC2，ADC1]确定期望的电压识别范围Uo；

根据期望的电压识别范围Uo校正并更新MCU中的电压识别上下限为[ADC2-Uo，ADC2+Uo]；

根据校正后的电压识别上下限[ADC2-Uo，ADC2+Uo]进行DUT放平识别检测。

进一步地，所述根据初始电压识别上下限[ADC2，ADC1]确定期望的电压识别范围Uo，具体包括：

设置一个比例因子Ra，Ra的取值范围为[0％,100％]；

取所述ADC1和ADC2的差值，记为Ud＝ADC1-ADC2；

计算出期望的电压识别范围Uo＝Ud*Ra。

更进一步地，所述根据期望的电压识别范围Uo校正并更新MCU中的电压识别上下限为[ADC2-Uo，ADC2+Uo]，具体包括：

以放上DUT时检测的电压值ADC2为基准，按照期望的识别电压范围Uo计算出新的电压识别上限为ADC2+Uo，计算出新的电压识别下限为ADC2-Uo；

更新并存储MCU中的电压识别上下限为[ADC2-Uo,ADC2+Uo]。

更进一步地，所述根据校正后的电压识别上下限[ADC2-Uo，ADC2+Uo]进行DUT放平识别检测，具体包括：

在红外反射传感器Q1的有效距离d处放置DUT，通过MCU采集红外反射传感器Q1的输出电压；