[发明专利]用于进行掉电测试的方法、装置和系统

说明书

提供了一种用于进行掉电测试的方法。该方法包括：在电子设备被上电之后执行多个程序，其中，所述多个程序中分别嵌入有标志位；以及将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态，其中，所述标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，所述第二标记状态与所述第一标记状态不同。通过这样的用于进行掉电测试的方法可以有助于优化整个掉电测试的过程，进而实现电子设备中的多个程序被掉电测试来测试到的频次可以是尽量均等的。

技术领域

本公开内容总体上涉及用于对设备进行测试的技术，以及更具体地涉及用于对设备进行掉电测试的方法、装置和系统。

背景技术

通常，在对通用闪存存储设备(UFS)设备的测试阶段会对UFS设备进行掉电测试。掉电测试是将处于工作状态的UFS设备的供电切断，然后再恢复对该UFS设备的供电，通过测试该UFS设备在恢复供电之后是处于正常的工作状态还是异常的工作状态，来判断该UFS设备是否通过了本次掉电测试。

然而，目前所采用的掉电测试对UFS设备的供电进行切断的时间点是随机地选择的，而通过随机地选择掉电时间点来进行的掉电测试难以保证UFS设备中的程序被全面地测试到。

发明内容

为了解决现有技术的上述问题，本公开内容的实施例提供用于进行掉电测试的方法、装置和系统。

一方面，本公开内容的实施例提供用于进行掉电测试的方法，包括在电子设备被上电之后执行多个程序，其中，所述多个程序中分别嵌入有标志位；以及将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态，其中，所述标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，所述第二标记状态与所述第一标记状态不同。

在一个实施例中，所述将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为所述第一标记状态包括：基于日志文件，来将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为所述第一标记状态。

在一个实施例中，所述方法还包括将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻未正在执行的一个或多个程序的标志位的标记状态设置为所述第二标记状态。

在一个实施例中，分别嵌入在所述多个程序中的标志位的标记状态用于生成统计数据表，其中，所述统计数据表指示所述电子设备在预定时间段内执行所述多个程序中的各程序时发生掉电的次数。

在一个实施例中，对所述电子设备发生掉电的时刻的选择是基于所述统计数据表来优化的。

在一个实施例中，所述多个程序包括主程序和子程序。

在一个实施例中，所述第一标记状态是通过1来表示的，并且所述第二标记状态是通过0表示的。

在一个实施例中，所述第一标记状态是通过0来表示的，并且所述第二标记状态是通过1表示的。

在一个实施例中，所述电子设备是存储设备。

在一个实施例中，所述方法是在所述存储设备中的固件中执行的。

在一个实施例中，所述存储设备是通用闪存存储设备。

另一方面，本公开内容的实施例提供用于进行掉电测试的装置，包括控制单元，其用于在所述装置被上电之后执行多个程序，其中，所述多个程序中分别嵌入有标志位；以及用于将所述多个程序中的在所述装置发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态，其中，所述标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，所述第二标记状态与所述第一标记状态不同。