[发明专利]用于进行掉电测试的方法、装置和系统

权利要求书

1.一种用于进行掉电测试的方法，包括：

在电子设备被上电之后执行多个程序，其中，所述多个程序中分别嵌入有标志位；以及

将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态，其中，所述标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，所述第二标记状态与所述第一标记状态不同。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为所述第一标记状态包括：

基于日志文件，来将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为所述第一标记状态。

3.根据权利要求1所述的方法，还包括：

将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻未正在执行的一个或多个程序的标志位的标记状态设置为所述第二标记状态。

4.根据权利要求1-3中任一所述的方法，其中，分别嵌入在所述多个程序中的标志位的标记状态用于生成统计数据表，其中，所述统计数据表指示所述电子设备在预定时间段内执行所述多个程序中的各程序时发生掉电的次数。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，对所述电子设备发生掉电的时刻的选择是基于所述统计数据表来优化的。

6.根据权利要求1-3中任一所述的方法，其中，所述多个程序包括主程序和子程序。

7.根据权利要求1-3中任一所述的方法，其中，所述第一标记状态是通过1来表示的，并且所述第二标记状态是通过0表示的。

8.根据权利要求1-3中任一所述的方法，其中，所述第一标记状态是通过0来表示的，并且所述第二标记状态是通过1表示的。

9.根据权利要求1-3中任一所述的方法，其中，所述电子设备是存储设备。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述方法是在所述存储设备中的固件中执行的。

11.根据权利要求9所述的方法，其中，所述存储设备是通用闪存存储设备。

12.一种用于进行掉电测试的装置，包括：

控制单元，其用于在所述装置被上电之后执行多个程序，其中，所述多个程序中分别嵌入有标志位；以及用于将所述多个程序中的在所述装置发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态，其中，所述标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，所述第二标记状态与所述第一标记状态不同。

13.一种用于进行掉电测试的装置，包括：

用于在所述装置被上电之后执行多个程序的单元，其中，所述多个程序中分别嵌入有标志位；以及

用于将所述多个程序中的在所述装置发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态的单元，其中，所述标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，所述第二标记状态与所述第一标记状态不同。

14.一种非暂时性计算机可读介质，其存储用于进行掉电测试的计算机可执行代码，所述代码可由一个或多个处理器执行以进行以下操作：

在电子设备被上电之后执行多个程序，其中，所述多个程序中分别嵌入有标志位；以及

将所述多个程序中的在所述电子设备发生掉电的时刻正在执行的相应的一个程序中的标志位的标记状态设置为第一标记状态，其中，所述标记状态包括第一标记状态和第二标记状态，所述第二标记状态与所述第一标记状态不同。

15.一种用于进行掉电测试的系统，其执行如权利要求1-11所述的方法，或者包括如权利要求12或13所述的装置，或者包括如权利要求14所述的非暂时性计算机可读介质。