[发明专利]一种印刷膜缺陷视觉检测方法和系统有效

专利信息
申请号: 202111094362.8 申请日: 2021-09-17
公开(公告)号: CN113808108B 公开(公告)日: 2023-08-01
发明(设计)人: 罗旭富;彭泽;朱登明;朱正刚 申请(专利权)人: 太仓中科信息技术研究院
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/11;G01N21/88;G01N21/956
代理公司: 苏州见山知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32421 代理人: 胡益萍
地址: 215411 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 印刷 缺陷 视觉 检测 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种印刷膜缺陷视觉检测方法,其特征在于,包括:

步骤S1:分别对印刷膜左半部分和右半部分进行拍摄成像;

步骤S2:提取左右两幅图像重叠区域的特征点,寻找两幅图像中对应的特征点对,计算所述特征点对的行坐标的差,并计算所述差的平均值,将所述平均值作为左右两幅图像的行偏移值,对两幅图像在行方向进行对齐;

步骤S3:选择一幅经过所述对齐后无缺陷的图像作为基准图像,绘制包含印刷模式的极小矩形感兴趣区域,创建基于Halcon的形状模板;

步骤S4:计算印刷模式的版周长度,生成印刷模式的基准模板图像,作为印刷模式的定位模板,包括:使用所述形状模板在对齐后的大图中寻找匹配的印刷文字和图案模式,计算相邻的印刷文字和图案模式的行距离,作为印刷模式的版周长度,生成印刷模式的基准模板图像,作为印刷模式的定位模板;

步骤S5:将基准模板图像分割为若干幅小图像,提取每幅小图像中的轮廓创建基于组件的匹配模型,作为纵向变形的矫正模型;

步骤S6:使用基准模板图像创建基于Halcon的偏差模型;

步骤S7:在实时检测时对采集到的两幅待检测图像,分别使用步骤S2到步骤S5进行对齐、模式定位和纵向的变形矫正,然后使用所述基于Halcon的偏差模型对待检测图像进行检测,以检测出待检测图像中的缺陷。

2.根据权利要求1所述的印刷膜缺陷视觉检测方法,其特征在于,所述提取左右两幅图像重叠区域的特征点,具体包括:

提取左右两幅图像的重叠区域的Harris角点作为两幅图像的特征点。

3.根据权利要求2所述的印刷膜缺陷视觉检测方法,其特征在于,根据以下公式计算所述行偏移值offsetrow:

;

其中rL和rR分别为左右两幅图像的对应特征点对的行坐标,N为对应的特征点对的个数;

使用所述行偏移值offsetrow对左右两幅图像在行方向进行对齐。

4.根据权利要求1所述的印刷膜缺陷视觉检测方法,其特征在于,

使用随机抽样一致算法寻找两幅图像中对应的特征点对,点对之间用线段相连接。

5.根据权利要求1所述的印刷膜缺陷视觉检测方法,其特征在于,

使用两个线阵CCD相机分别对印刷膜左半部分和右半部分进行拍摄成像。

6.根据权利要求1所述的印刷膜缺陷视觉检测方法,其特征在于,步骤S7具体包括:在实时检测时,对实时采集的两幅图像分别使用步骤S2中所述的对齐方法进行图像对齐,使用步骤S4中的模板进行印刷模式定位,并生成一幅待检测的印刷模式图像,使用步骤S5中的模型对待检测的模式图像进行纵向的变形矫正,使用步骤S6中的基于Halcon的偏差模型对待检测的模式图像进行缺陷检测。

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