[发明专利]一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法有效
| 申请号： | 202111085588.1 | 申请日： | 2021-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN113884020B | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | 张庆祥;王临昌;潘冠健;周少峰;郑晓泽;唐小琦;陈英滔;谭辉;汤胜水;孟伟;廖建金;徐亮亮;吴增雷 | 申请（专利权）人： | 苏州三姆森光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01B11/02;G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京惟盛达知识产权代理事务所(普通合伙) 11855 | 代理人： | 董鸿柏 |
| 地址： | 215156 江苏省苏州市吴中区木*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 产品 部长 尺寸 测量方法 | ||
1.一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法，该3C产品依次包括第一边缘、第三边缘、第二边缘和第四边缘，第一边缘与第二边缘相对，第三边缘与第四边缘相对；其特征在于，包括如下步骤：
对应第一边缘设置第一基准块，对应第二边缘设置第二基准块，对应第三边缘设置第三基准块，对应第四边缘设置第四基准块；所述第一基准块包括第一基准面，所述第二基准块包括第二基准面，所述第三基准块包括第五基准面，所述第四基准块包括第六基准面，第一基准面到第二基准面的距离为d，第五基准面到第六基准面的距离为d’；
使3D轮廓仪绕X轴旋转θ角度，绕Z轴旋转δ角度；利用3D轮廓仪依次扫描第一边缘与第三边缘，并同步扫描第一基准块与第三基准块；
再次使3D轮廓仪绕Z轴旋转，使3D轮廓能够扫描到第二边缘；利用3D轮廓仪依次扫描第二边缘与第四边缘，并同步扫描第二基准块与第四基准块；
获取3D轮廓仪扫描第一边缘时的第一特征点P1；获取3D轮廓仪扫描第二边缘时的第二特征点P3；
获取第一特征点P1到第一基准面的距离a，获取第二特征点P3到第二基准面的距离b；
根据距离a、b、d获取第一边缘到第二边缘的距离c；
获取第三边缘到第四边缘的距离c’的方法与获取第一边缘到第二边缘的距离c的方法原理相同；
所述获取第一特征点P1到第一基准面的距离a包括：
获取3D轮廓仪的数值中心点O；
获取数值中心点O到第一基准面的距离S1；
获取数值中心点O到第一辅助面的距离S2，其中第一辅助面与第一基准面平行且经过第一特征点P1；
获取距离a；
所述获取数值中心点O到第一基准面的距离S1以及获取数值中心到第一辅助面的距离S2包括：
获取当前3D轮廓仪的倾斜角度θ1，其中θ1为3D轮廓仪的激光与第一基准块的第三基准面所形成的夹角；
获取3D轮廓仪扫描的第一特征点P1的坐标值P1(x1a，h1a)，获取同一时刻扫描第一基准面时的任意点P2，及点P2的坐标值P2(x2a，h2a)；
获取齐次变换矩阵，利用齐次变换矩阵获取第一特征点P1以及任意点P2的变换后的坐标值，Q1(x1，h1),Q2(x2，h2)；
获取数值中心点O到第一基准面的距离S1，S1＝h1*cosθ1+x1*sinθ1；获取数值中心点O到第一辅助面的距离S2，S2＝h2*cosθ1+x2*sinθ1。
2.根据权利要求1所述的一种3C产品内部长宽尺寸的测量方法，其特征在于：所述获取齐次变换矩阵包括：
建立齐次变换矩阵模型：其中Px、Py、Pw表示变换前的坐标值，Qx、Qy、Qw表示变换后的坐标值；
获取3D轮廓仪扫描第一基准面时的原始图像，在原始图像上取四个点的坐标值；
对原始图像进行平面校正，获取校正后四个点所对应的坐标值，并将校正前后的坐标值分别代入齐次变换矩阵模型，获取矩阵HomMat。
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