[发明专利]基于数据库及统计分析的化成箔生产方法有效

专利信息
申请号: 202111072757.8 申请日: 2021-09-14
公开(公告)号: CN113718327B 公开(公告)日: 2022-03-22
发明(设计)人: 李三华;朱益辉 申请(专利权)人: 内蒙古海立电子材料有限公司
主分类号: C25F3/04 分类号: C25F3/04;G06F16/2457
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 012001 内蒙古自治区乌兰察*** 国省代码: 内蒙古;15
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摘要:
搜索关键词: 基于 数据库 统计分析 化成 生产 方法
【说明书】:

发明涉及一种基于数据库及统计分析的化成箔生产方法,该方法包括采集各测试周期内的测试参数数据,所述测试参数数据包括皮膜耐压值、升压时间、化成箔容量、皮膜耐压最大值、皮膜水煮后耐压、皮膜水煮后耐压最大值、皮膜漏电流和皮膜水煮后升压时间;存储各测试周期内的测试参数数据;根据各测试周期内测试参数数据的实时变化情况确定下一生产周期内的实际参数;通过数据采集装置采集到的测试参数数据以及存储,对数据进行处理,进而根据检测周期内的参数数据走势,判定基础电量供应下的工作状态,并在基础电量供应的基础上启用备用电量供应,并且在对应的使用时间内启用备用电量供应,使得在化成箔的正常生产,提高化成箔的生产效率。

技术领域

本发明涉及加工技术领域,尤其涉及一种基于数据库及统计分析的化成箔生产方法。

背景技术

化成箔是一种特制的铝箔,是电容器的专用材料,经过电化学腐蚀,达到电容器使用技术指标的一种材料。这种材料的技术性能决定着电容器的基本技术指标,它分为高压,中压,低压等种类,用途广泛。

但是在实际生产过程中,实际生产中产生的数据参数则直接记录并存储,通常在生产中,只要相应的数据参数在生产要求区间内,生产出来的化成箔的质量满足实际要求即可,完成实际生产就终止生产过程中,在生产过程中记录的数据参数随着过程终止,生产过程中所产生的参数数据则不再发挥实际作用。

因此,如何更有效的利用生产过程中的数据参数提高化成箔的生产质量成为人们亟需解决的问题。

发明内容

为此,本发明提供一种基于数据库及统计分析的化成箔生产方法,可以解决现有技术中对于生产过程中的数据参数利用不充分的问题。

为实现上述目的,本发明提供一种基于数据库及统计分析的化成箔生产方法,包括:

采集各测试周期内的测试参数数据,利用测试参数数据组建参数数据库,所述参数数据库内的测试参数数据包括皮膜耐压值、升压时间、化成箔容量、皮膜耐压最大值、皮膜水煮后耐压、皮膜水煮后耐压最大值、皮膜漏电流和皮膜水煮后升压时间;

存储各测试周期内的测试参数数据;

根据各测试周期内测试参数数据的实时变化情况确定下一生产周期内的实际参数;

根据各测试周期内测试参数数据的实时变化情况确定下一生产周期内的实际参数包括:

在测试周期内,获取测试周期内实时皮膜漏电流LC并将该数据参数通过所述通信网络传递至中控模块,所述中控模块内设有第一皮膜漏电流参数LC1和第二皮膜漏电流参数LC2,所述中控模块将获取的实时皮膜漏电流LC与第一皮膜漏电流参数LC1和第二皮膜漏电流参数LC2,

当LC≤LC1时,所述中控模块判定皮膜漏电流过低,化成机出现单点异常,中控模块向所述备用电量供应发出指令,备用电量供应进行启动;

当LC1<LC≤LC2时,所述中控模块判定皮膜漏电流正常,中控模块将对所述存储模块发出指令对皮膜漏电流LC进行存储;

当LC>LC2时,所述中控模块判定皮膜漏电流过高,化成机出现单点异常,中控模块向所述备用电量供应发出指令,备用电量供应进行启动。

进一步地,在某一测试周期内皮膜漏电流LC范围正常且皮膜漏电流LC的下一个测试周期内的皮膜漏电流LC′范围正常时,所述中控模块计算某一测试周期内的皮膜漏电流LC与下一测试周期内的皮膜漏电流LC′的差值的绝对值ΔLC1,ΔLC1=∣LC-LC′∣,中控模块内还设有皮膜漏电流差值的绝对值参数ΔLCz,中控模块将计算的差值的绝对值ΔLC1与皮膜漏电流差值的绝对值参数ΔLCz进行对比,

当△LC1≤ΔLCz时,所述中控模块判定两个测试周期内的皮膜漏电流LC与LC′的变化值在合理范围内;

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