[发明专利]基于数据库及统计分析的化成箔生产方法

权利要求书

1.一种基于数据库及统计分析的化成箔生产方法，其特征在于，包括：

采集各测试周期内的测试参数数据，利用测试参数数据组建参数数据库，所述参数数据库内的测试参数数据包括皮膜耐压值、升压时间、化成箔容量、皮膜耐压最大值、皮膜水煮后耐压、皮膜水煮后耐压最大值、皮膜漏电流和皮膜水煮后升压时间；

存储各测试周期内的测试参数数据；

根据各测试周期内测试参数数据的实时变化情况确定下一生产周期内的实际参数；

根据各测试周期内测试参数数据的实时变化情况确定下一生产周期内的实际参数包括：

在测试周期内，获取测试周期内实时皮膜漏电流LC并将该数据参数通过通信网络传递至中控模块，所述中控模块内设有第一皮膜漏电流参数LC1和第二皮膜漏电流参数LC2，所述中控模块将获取的实时皮膜漏电流LC与第一皮膜漏电流参数LC1和第二皮膜漏电流参数LC2分别进行比较，获取比较结果，

当LC≤LC1时，所述中控模块判定皮膜漏电流过低，化成机出现单点异常，中控模块向备用电量供应发出指令，备用电量供应进行启动；

当LC1＜LC≤LC2时，所述中控模块判定皮膜漏电流正常，中控模块将对存储模块发出指令对皮膜漏电流LC进行存储；

当LC＞LC2时，所述中控模块判定皮膜漏电流过高，化成机出现单点异常，中控模块向所述备用电量供应发出指令，备用电量供应进行启动；

在某一测试周期内皮膜漏电流LC范围正常且皮膜漏电流LC的下一个测试周期内的皮膜漏电流LC′范围正常时，所述中控模块计算某一测试周期内的皮膜漏电流LC与下一测试周期内的皮膜漏电流LC′的差值的绝对值ΔLC1，ΔLC1＝∣LC-LC′∣，中控模块内还设有皮膜漏电流差值的绝对值参数ΔLCz，中控模块将计算的差值的绝对值ΔLC1与皮膜漏电流差值的绝对值参数ΔLCz进行对比，

当ΔLC1≤ΔLCz时，所述中控模块判定两个测试周期内的皮膜漏电流LC与LC′的变化值在合理范围内；

当ΔLC1＞ΔLCz时，所述中控模块判定两个测试周期内皮膜漏电流LC与LC′的变化值不在合理范围内，中控模块向所述备用电量供应发出指令，启用备用电量供应。

2.根据权利要求1所述的基于数据库及统计分析的化成箔生产方法，其特征在于，

所述当ΔLC1＞ΔLCz时，所述中控模块判定两个测试周期内皮膜漏电流LC与LC′的变化值不在合理范围内，中控模块向所述备用电量供应发出指令，启用备用电量供应包括：

获取基础电量供应的电压值，根据基础电量供电的电压值获取该基础电量供应的最大使用时间，并根据实际使用时间与最大使用时间，判定该基础电量供应是否能满足要求；

根据基础电量供应的实际使用时间预测该基础电量供应内的电量的标准使用时间；

在测试周期内，若经过该测试周期内的实际使用时间≤最大使用时间，则无需对标准使用时间进行调整；

若该测试周期内的化基础电量供应内电量的实际使用时间最大使用时间，则需要对标准使用时间进行一次调整。

3.根据权利要求2所述的基于数据库及统计分析的化成箔生产方法，其特征在于，

若该测试周期内的基础电量供应内电量的实际使用时间最大使用时间，则需要对标准使用时间进行一次调整包括：

根据经过该测试周期内的基础电量供应的实际使用时间超出预设的标准时间的程度，选择对标准使用时间延长得多少。

4.根据权利要求3所述的基于数据库及统计分析的化成箔生产方法，其特征在于，

所述根据经过该测试周期内的基础电量供应的实际使用时间超出预设的标准时间的程度，选择对标准使用时间延长得多少包括：

设置标准使用时间为TO，在预设测试周期内的化基础电量供应内电量的实际使用时间长度为L，预设的最大使用时间长度为L0，若L-L00.5×L0，则延长标准使用时间为第一标准使用时间T1＝2×T0×(1+(L-L0)/L0)；

若L-L00.8×L0，则延长标准使用时间为第二标准使用时间T2＝1.8×T0×(1+(L-L0)/L0)；

若L-L0L0，则延长标准使用时间为第三标准使用时间T3＝T0×(1+(L-L0)/L0)。