[发明专利]一种闪存块磨损度的评估方法及固态硬盘

说明书

本发明公开了一种闪存块磨损度的评估方法及固态硬盘，获取闪存块在刚注入电子后的电子泄漏程度值；获取已注入电子的闪存块的电子泄漏趋向值；根据闪存块的电子泄漏程度值和电子泄漏趋向值，评估闪存块的磨损度。可见，本申请从闪存块的电子泄漏程度值和电子泄漏趋向值两个维度评估闪存块的磨损度，相比于单一擦除次数作为磨损评估指标，从两个维度评估磨损度更为全面和精准，使得磨损均衡效果较好，进而增加了固态硬盘的整体寿命。

技术领域

本发明涉及固态存储领域，特别是涉及一种闪存块磨损度的评估方法及固态硬盘。

背景技术

闪存包含多个闪存块(Block)，每个闪存块包含多个闪存页(Page)。闪存块是闪存擦除的基本单位，当一个闪存页被写入数据后，只有在所在闪存块进行了擦除操作之后，才可进行新的写入操作。

目前，对于基于闪存的固态硬盘(采用闪存芯片作为存储介质的固态硬盘)，各闪存块的磨损均衡是保证固态硬盘存储可靠性的关键因素。为了实现对各闪存块的磨损进行均衡控制，需准确评估各闪存块的磨损度，这也有助于基于各闪存块的磨损度评估固态硬盘的寿命。

现有技术中，通常基于闪存块的擦除次数评估闪存块的磨损度，闪存块的擦除次数越多，闪存块的磨损情况越严重。但是，只有单一擦除次数作为磨损评估指标不够全面和精准，从而影响磨损均衡效果，进而影响固态硬盘的整体寿命。

因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域的技术人员目前需要解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种闪存块磨损度的评估方法及固态硬盘，从闪存块的电子泄漏程度值和电子泄漏趋向值两个维度评估闪存块的磨损度，相比于单一擦除次数作为磨损评估指标，从两个维度评估磨损度更为全面和精准，使得磨损均衡效果较好，进而增加了固态硬盘的整体寿命。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种闪存块磨损度的评估方法，包括：

获取闪存块在刚注入电子后的电子泄漏程度值；

获取已注入电子的所述闪存块的电子泄漏趋向值；

根据所述闪存块的电子泄漏程度值和电子泄漏趋向值，评估所述闪存块的磨损度。

优选地，获取闪存块在刚注入电子后的电子泄漏程度值，包括：

获取所述闪存块的擦除次数，并获取所述闪存块在刚注入电子后的初始错误比特评估值；

根据所述擦除次数和所述初始错误比特评估值，确定所述闪存块在刚注入电子后的电子泄漏程度值；其中，所述擦除次数和所述初始错误比特评估值与所述电子泄漏程度值之间呈正相关关系。

优选地，获取所述闪存块在刚注入电子后的初始错误比特评估值，包括：

获取所述闪存块在刚注入电子后的IRBER值或IFBC值，并获取所述闪存块在刚注入电子后的温度值；

根据所述温度值相应对所述IRBER值或IFBC值进行修正，得到所述闪存块在刚注入电子后的IRBER修正值或IFBC修正值，并将所述IRBER修正值或所述IFBC修正值作为所述初始错误比特评估值。

优选地，根据所述擦除次数和所述初始错误比特评估值，确定所述闪存块在刚注入电子后的电子泄漏程度值，包括：

根据LL＝EPC*δ*IRBER或LL＝EPC*δ*IFBC计算所述闪存块在刚注入电子后的电子泄漏程度值LL；

其中，EPC为所述擦除次数；δ*IRBER为所述IRBER修正值；δ*IFBC为所述IFBC修正值；δ为所述温度值对应的第一温度补偿系数。

优选地，获取已注入电子的所述闪存块的电子泄漏趋向值，包括：