[发明专利]基于共模比较的熔丝读出电路在审

专利信息
申请号: 202111061644.8 申请日: 2021-09-10
公开(公告)号: CN114627944A 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 潘栋 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: G11C17/16 分类号: G11C17/16
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 彭晓文
地址: 美国爱*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 基于 比较 读出 电路
【说明书】:

本申请案涉及基于共模比较的熔丝读出电路。提供感测位于熔丝阵列中的熔丝的状态的系统及方法。这些方法涉及逻辑门,所述逻辑门基于在所述逻辑门处接收的输出的组合来选择性地传输来自相应比较器的输出。所述比较器基于比较指示所述熔丝状态的经接收信号与参考电压来生成输出。所述系统及方法降低熔丝感测装置的功率消耗,因为所述熔丝感测装置的部分在未感测时被取消激活且能够发生单熔丝读取,以及其它优点。

技术领域

本申请案涉及基于共模比较的熔丝读出电路。

背景技术

本章节意在向读者介绍可能与下文所描述及/或主张的本发明的各个方面相关的领域的各个方面。本论述被认为有助于向读者提供背景信息以促进对本发明的各个方面的更好理解。因此,应理解,这些陈述应从这个角度来解读,并非作为对现有技术的承认。

电子装置(例如半导体装置、存储器芯片、微处理器芯片、图像芯片等)可包含用于存储信息的一组熔丝。例如,电子装置(例如半导体裸片)可包含一或多个熔丝阵列(例如,经编程以存储信息的一组熔丝或反熔丝或熔丝或反熔丝网络)。电子装置可在一或多个位置中包含一或多个熔丝阵列以提供对电子装置的不同电路组件的支持。例如,熔丝阵列可为集成在半导体裸片上的电路提供电压偏移或提供关于半导体裸片上的相应电路组件的信息(例如,冗余信息、晶片批号、裸片批号、晶片上的裸片位置)。

为了节省空间且使电子装置更紧凑,用于电子装置的不同电路组件的熔丝阵列可经定位在电子装置中的一个位置中,由此在其它设计中取代位于整个装置中的离散熔丝。半导体裸片可从熔丝阵列读取信息(例如,冗余信息、晶片批号、裸片批号、晶片上的裸片位置)且将信息传输到安置在电子装置内的某个位置处的相应电路组件。

考虑到这一点,应注意,电子装置的状况会影响熔丝读取过程的可靠性。例如,电电源的状况或设置(例如,其输出),例如在装置启动、初始化或配置之后的稳定期期间,可引起错误的熔丝读取。在下一次启动、初始化或配置之前,任何此类读取错误均可在装置的整个操作中引起持续性问题。因而,期望提供用于确保准确且有效的熔丝读取操作的改进系统及方法。然而,例如,由于用于将再生锁存电路充电到切换阈值使得与熔丝状态相关联的输出能够被读取的时间量,这些改进的系统及方法可能需要相对长的时间量来读取熔丝状态。以这种方式,可期望提供用于改进(例如,减少)用来执行熔丝读取操作的持续时间的系统及方法。

发明内容

本申请案的一方面涉及一种熔丝读出电路,其包括:电流镜,其经配置以从包括待感测熔丝的熔丝门阵列的一部分接收输出,其中所述电流镜包括形成第一节点及第二节点的连接;及比较器,其经耦合到所述电流镜,其中所述比较器包括耦合到所述第一节点的第一输入及耦合到所述第二节点的第二输入,且其中所述比较器经配置以当选择所述熔丝门阵列的所述部分时生成指示所述熔丝的状态的输出。

本申请案的另一方面涉及一种半导体装置,其包括:熔丝读出电路,其包括耦合到第一比较器的第一电流镜及耦合到第二比较器的第二电流镜,其中所述第一比较器及所述第二比较器两者将信号输出到逻辑装置的相应输入;及控制器,其经配置以:操作所述第一电流镜以接收与第一熔丝相关联的第一电流且操作所述第二电流镜以接收与第二熔丝相关联的第二电流,其中所述第一电流镜将所述第一电流输出到所述第一比较器,且其中所述第二电流镜将所述第二电流输出到所述第二比较器;启用所述逻辑装置来传输指示来自所述第一比较器的第一输出及来自所述第二比较器的第二输出的信号;且至少部分地基于从所述逻辑装置传输的所述信号来调整电路的操作。

本申请案的又一方面涉及一种方法,其包括:操作第一电流镜以接收由指示第一熔丝的状态的值特性化的第一电流,其中所述第一电流镜将所述第一电流输出到第一比较器;操作第二电流镜以接收由指示第二熔丝的状态的值特性化的第二电流,其中所述第二电流镜将所述第二电流输出到第二比较器;操作逻辑装置以传输指示来自所述第一比较器的第一输出及来自所述第二比较器的第二输出的信号;及从所述逻辑装置接收所述信号且存储所述信号的值的指示。

附图说明

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