[发明专利]电阻阻值获取电路、方法和装置在审
| 申请号: | 202111028805.3 | 申请日: | 2021-09-02 |
| 公开(公告)号: | CN115754479A | 公开(公告)日: | 2023-03-07 |
| 发明(设计)人: | 孙钮一;杨丹;梅娜;孙拓北 | 申请(专利权)人: | 深圳市中兴微电子技术有限公司 |
| 主分类号: | G01R27/08 | 分类号: | G01R27/08;G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 张秀英 |
| 地址: | 518055 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电阻 阻值 获取 电路 方法 装置 | ||
本申请提供了一种电阻阻值获取电路、方法和装置,其中,该电路包括:工作电压节点电阻Rb,公共接地端电压节点电阻Rc,参考节点电阻Ra,第一互连寄生电阻Rwire1、第二互连寄生电阻Rwire2、封装网络电阻Rnet、第一二极管Dio_VDD,第二二极管Dio_Vss以及第三二极管Dio_die,其中,Rb分别连接Rwire1的一端与Rnet的一端,Rwire1的另一端与Dio_VDD的负极连接,Dio_VDD的正极分别连接Ra与Dio_Vss的负极,Dio_Vss的正极通过Rwire2分别连接Rc与Dio_die的负极,Dio_die的正极与Rnet的另一端连接。通过本申请,解决了相关技术中无法对目标系统的各个组成部分的电阻进行分离和提取的技术问题,进而达到了对目标系统各个组成部分的电阻的分离和提取,以及精确地监控系统各个组成部分的电阻的效果。
技术领域
本申请涉及电路技术领域,具体而言,涉及一种电阻阻值获取电路、方法和装置。
背景技术
电阻测量不仅需要对封装体中各个电阻成分的阻值进行精确测试,还要从技术上对链路上的不同物理组成的阻值进行分离。类似的要求和挑战也在一些更庞大而复杂的系统(比如超大规模集成电路或电机系统)中存在,对于电阻串联电路或并联电路,甚至任意复杂的电阻网络(假设这个复杂网络也是一个两端网络),通过改变测试端口的电压极性,量测到的等效电阻的观测值是无差别的,改变测量方式并不能获得更多的信号,更无法区分电路中的各个分立电阻。相关技术中无法对目标系统的各个组成部分的电阻进行分离和提取。
针对上述无法对目标系统的各个组成部分的电阻进行分离和提取的问题,目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本申请实施例提供了一种电阻阻值获取电路、方法和装置,以至少解决相关技术中相关技术中无法对目标系统的各个组成部分的电阻进行分离和提取的问题。
根据本申请的一个实施例,提供了一种电阻阻值获取电路,包括:工作电压节点电阻Rb,公共接地端电压节点电阻Rc,参考节点电阻Ra,第一互连寄生电阻Rwire1、第二互连寄生电阻Rwire2、封装网络电阻Rnet、第一二极管Dio_VDD,第二二极管Dio_Vss以及第三二极管Dio_die,其中,
所述工作电压节点电阻Rb分别连接所述第一互连寄生电阻Rwire1的一端与所述封装网络电阻Rnet的一端,所述第一互连寄生电阻Rwire1的另一端与所述第一二极管Dio_VDD的负极连接,所述第一二极管Dio_VDD的正极分别连接所述参考节点电阻Ra与所述第二二极管Dio_Vss的负极,所述第二二极管Dio_Vss的正极通过所述第二互连寄生电阻Rwire2分别连接所述公共接地端电压节点电阻Rc、所述第三二极管Dio_die的负极,所述第三二极管Dio_die的正极与所述封装网络电阻Rnet的另一端连接。
根据本申请的一个实施例,提供了一种电阻阻值获取方法,包括:确定出基于待测等效电路中的多个电阻的节点,选出任意两个节点作为组合节点;其中,所述多个电阻至少包括工作电压节点电阻Rb,公共接地端电压节点电阻Rc以及参考节点电阻Ra;
对所述组合节点施加不同的电压极性进行电压和电流特性检测,获取每种电压极性组合下所述组合节点两端之间的串联电阻值;
基于所述串联电阻值获取所述待测等效电路中的所述多个电阻的阻值。
根据本申请的另一个实施例,提供了一种电阻阻值获取装置,包括:
确定单元,用于确定出基于待测等效电路中的多个电阻的节点,选出任意两个节点作为组合节点;其中,所述多个电阻至少包括工作电压节点电阻Rb,公共接地端电压节点电阻Rc以及参考节点电阻Ra;
第一获取单元,用于对所述组合节点施加不同的电压极性进行电压和电流特性检测,获取每种电压极性组合下所述组合节点两端之间的串联电阻值;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市中兴微电子技术有限公司,未经深圳市中兴微电子技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111028805.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





