[发明专利]一种有机镧前驱体La(iPr2在审

专利信息
申请号: 202111027640.8 申请日: 2021-09-02
公开(公告)号: CN113582879A 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 张学奇;严达;朱思坤;李建恒 申请(专利权)人: 合肥安德科铭半导体科技有限公司
主分类号: C07C257/12 分类号: C07C257/12
代理公司: 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 代理人: 赵丹
地址: 230000 安徽省合肥市高新*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 有机 前驱 la ipr base sub
【说明书】:

发明公开一种有机镧前驱体La(iPr2‑FMD)3的制备方法,通过N,N'‑二异丙基甲脒、ML和LaCl3·xTHF反应制备La(iPr2‑FMD)3,ML为金属氢化物或氨基金属,M为金属钠或钾,L为H、NH2或N(SiMe3)2,LaCl3·xTHF中x值为0.7‑1.5。本发明通过使用N,N'‑二异丙基甲脒钠盐或钾盐,可以与LaCl3·xTHF反应制得La(iPr2‑FMD)3,升华提纯时,由于N,N'‑二异丙基甲脒钠盐或钾盐的蒸气压比锂盐低,可较易实现与产品La(iPr2‑FMD)3的分离,提高了产品的纯度,产率也比使用锂盐时更高。

技术领域

本发明涉及半导体材料领域,具体的是一种有机镧前驱体La(iPr2-FMD)3的制备方法。

背景技术

镧是一种金属稀土元素,其化学性质活泼,在空气中易氧化。氧化镧(La2O3)是镧的氧化物,被广泛应用于半导体工艺中,由于它的介电常数高(六方相La2O3的介电常数为27)、带隙宽(~5.5eV),因此可以单独用于栅极氧化物薄膜,也可与HfO2、Y2O3掺杂形成DRAM内存芯片中的高介电常数(high-k)层。同时La2O3也被用于HfO2栅极氧化物薄膜层的覆盖层,La/La2O3作为锗(Ge)的钝化层。La2O3在很宽的波长范围内都是“透明”的,也是一个好的光学薄膜。

为沉积高质量的La2O3薄膜,La前驱体材料已被人们广泛研究,常规的La前驱体包括:La(thd)3,La(Cp)3,La(iPrCp)3和La[N(SiMe3)2]3。其中:La(thd)3的沉积速率低,只有0.36A/cycle;La(Cp)3和La(iPrCp)3的热稳定性差,不适用于250℃以上的薄膜沉积,且薄膜中常有碳残留;La[N(SiMe3)2]3没有稳定的ALD饱和曲线,薄膜中有Si残留。因此,热稳定性高、蒸气压高的La前驱体材料:La(iPr2-MeAMD)3、La(iPr2-FMD)3和(RCp)2La(iPr2-MeAMD)逐渐替代了常规的La前驱体。

在制备La前驱体La(iPr2-MeAMD)3、La(iPr2-FMD)3和(RCp)2La(iPr2-MeAMD)的过程中,由于金属La的空间特性以及其非常容易与氧结合的能力,导致LaCl3极易全部或部分水解,生成稳定性很高的La-O键,无法进一步形成配位键。因此,制备上述分子时,不能简单地使用LaCl3,而一般会使用四氢呋喃配位的LaCl3·xTHF。

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